[发明专利]一种多栅指GaN HEMTs有效
申请号: | 201110229091.2 | 申请日: | 2011-08-11 |
公开(公告)号: | CN102270659A | 公开(公告)日: | 2011-12-07 |
发明(设计)人: | 王建辉;刘新宇;王鑫华;庞磊;袁婷婷 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L29/423 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 王建国 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多栅指 gan hemts | ||
1.一种多栅指GaN HEMTs,包括栅指,其特征在于,所述栅指分为等温栅指和变温栅指,
所述等温栅指的各个栅指之间的距离为:
其中,
Lgg,IN-多栅指GaN HEMTs等温栅指的各个栅指之间的距离,μm;
n1-多栅指GaN HEMTs等温栅指的单侧栅指间间隔的数量;
L0-等栅间距的GaN HEMTs的各个栅指之间的距离,μm;
WIN-等栅间距的GaN HEMTs等温栅指的单侧总长度,μm;
Wop-多栅指GaN HEMTs与等栅间距的GaN HEMTs相比,等温栅指的单侧补偿长度,μm;
所述变温栅指的各个栅指之间的距离为:
Lgg,OUT,i=Lgg,IN+a(4i3+3i2+i),
其中,
i-从多栅指GaN HEMTs中心向边缘对变温栅指之间的间隔进行计数时对应的索引值;
n2-多栅指GaN HEMTs的变温栅指的单侧栅指间间隔的数量;
i的取值范围从1到n2;
L0-等栅间距的GaN HEMTs各个栅指之间的距离,μm;
Lgg,OUT-多栅指GaN HEMTs变温栅指的各个栅指之间的距离,μm;
WOUT-多栅指GaN HEMTs变温栅指的单侧总长度,μm;
a-多栅指GaN HEMTs变温栅指的各个栅指之间距离的渐变系数。
2.根据权利要求1所述的GaN HEMTs,其特征在于,所述a的计算公式为
其中,
a0-与用于制造GaN HEMTs的材质的热特性有关,取值范围从0到0.5;
Lgg,IN-多栅指GaN HEMTs等温栅指的各个栅指之间的距离;
n2-多栅指GaN HEMTs变温栅指的单侧栅指间间隔的数量。
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