[发明专利]一种多栅指GaN HEMTs有效

专利信息
申请号: 201110229091.2 申请日: 2011-08-11
公开(公告)号: CN102270659A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: 王建辉;刘新宇;王鑫华;庞磊;袁婷婷 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/423
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 王建国
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 多栅指 gan hemts
【权利要求书】:

1.一种多栅指GaN HEMTs,包括栅指,其特征在于,所述栅指分为等温栅指和变温栅指,

所述等温栅指的各个栅指之间的距离为:

Lgg,IN=(n1-0.5)×L0+Wopn1-0.5=WIN+Wopn1-0.5,]]>

其中,

Lgg,IN-多栅指GaN HEMTs等温栅指的各个栅指之间的距离,μm;

n1-多栅指GaN HEMTs等温栅指的单侧栅指间间隔的数量;

L0-等栅间距的GaN HEMTs的各个栅指之间的距离,μm;

WIN-等栅间距的GaN HEMTs等温栅指的单侧总长度,μm;

Wop-多栅指GaN HEMTs与等栅间距的GaN HEMTs相比,等温栅指的单侧补偿长度,μm;

所述变温栅指的各个栅指之间的距离为:

Lgg,OUT,i=Lgg,IN+a(4i3+3i2+i),

WOUT=Σi=1n2Lgg,OUT,i,]]>

其中,

i-从多栅指GaN HEMTs中心向边缘对变温栅指之间的间隔进行计数时对应的索引值;

n2-多栅指GaN HEMTs的变温栅指的单侧栅指间间隔的数量;

i的取值范围从1到n2

L0-等栅间距的GaN HEMTs各个栅指之间的距离,μm;

Lgg,OUT-多栅指GaN HEMTs变温栅指的各个栅指之间的距离,μm;

WOUT-多栅指GaN HEMTs变温栅指的单侧总长度,μm;

a-多栅指GaN HEMTs变温栅指的各个栅指之间距离的渐变系数。

2.根据权利要求1所述的GaN HEMTs,其特征在于,所述a的计算公式为

a=-a0Lgg,INn23]]>

其中,

a0-与用于制造GaN HEMTs的材质的热特性有关,取值范围从0到0.5;

Lgg,IN-多栅指GaN HEMTs等温栅指的各个栅指之间的距离;

n2-多栅指GaN HEMTs变温栅指的单侧栅指间间隔的数量。

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