[发明专利]具微机电组件的封装结构的制法有效

专利信息
申请号: 201110229530.X 申请日: 2011-08-09
公开(公告)号: CN102874745A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 林辰翰;张宏达;刘正祥;廖信一;邱世冠 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 微机 组件 封装 结构 制法
【权利要求书】:

1.一种具微机电组件的封装结构的制法,其包括:

准备一具有相对的第一表面与第二表面的板体、以及一具有相对的第三表面与第四表面的晶片,该板体第一表面上具有多个凹槽、多个第一对位键与对应位于各该凹槽周缘的多个密封环,该第三表面上具有多个微机电组件、多个电性接点与多个第二对位键;

将该板体与该晶片结合,其结合方式是令各该第一对位键对应至各该第二对位键,使该板体的密封环接置于该晶片的第三表面上,而令各该微机电组件对应设于各该凹槽与密封环中;

从该第二表面薄化该板体;

于该第二表面上形成对应各该第二对位键的第三对位键;

形成金属层于该第二表面上;

切割该板体,以形成露出该等电性接点与该等第二对位键的板体开口;

以多个金属线连接该电性接点与该金属层;

以粘着剂将多个块体对应粘设于各该第二对位键上,且该块体的顶面高于该金属线;

于该晶片的第三表面上形成封装层,以包覆该板体、电性接点、块体与金属线;

从该封装层的顶面移除部分厚度的该封装层、部分该金属线与部分该块体,以外露该金属线的一端与该块体;以及

借由该第二对位键来对位,并于该封装层上形成多个金属导线,令该金属导线借由该金属线电性连接至该电性接点。

2.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该制法还包括于形成该金属导线之前,于该封装层上形成第一绝缘层,该第一绝缘层具有多个外露该金属线的第一绝缘层开口,且该金属导线是形成于该第一绝缘层开口处以电性连接该金属线。

3.根据权利要求2所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该制法还包括于该第一绝缘层与金属导线上形成第二绝缘层,且该第二绝缘层具有多个外露部分该金属导线的第二绝缘层开口。

4.根据权利要求1、2或3所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,于形成该金属导线之后,还包括于该金属导线上形成焊球。

5.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该第三对位键为开孔。

6.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该块体的数量为两个,且分别位于该晶片的周缘处任意相对两侧。

7.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该等凹槽是借由深反应式离子蚀刻、氢氧化钾或氢氧化四甲基铵而蚀刻产生。

8.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该密封环的材质为玻璃粉、环氧树脂、干膜、金、铜、铟化金、焊料、锗、锗化铝、或硅锗。

9.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该金属层的材质为铝/铜。

10.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该块体的材质为玻璃或含硅的基材。

11.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该粘着剂的材质为玻璃粉、环氧树脂、或干膜。

12.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该微机电组件为陀螺仪、加速度计或射频微机电组件。

13.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,该制法还包括进行切单制程,以得到多个具微机电组件的封装结构。

14.根据权利要求1所述的具微机电组件的封装结构的制法,其特征在于,制作该第三对位键时是以对准仪进行定位与曝光,之后再进行显影和蚀刻制程,以形成该第三对位键。

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