[发明专利]导电银浆材料中银元素含量的测量方法无效
| 申请号： | 201110233626.3 | 申请日： | 2011-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN102393343A | 公开（公告）日： | 2012-03-28 |
| 发明（设计）人： | 冯银巧 | 申请（专利权）人： | 上海华碧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N5/04 | 分类号： | G01N5/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 导电 材料 银元 含量 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种导电银浆材料中银元素含量的测量方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
A、用天平称取一定量的银浆样品，记为m1；
B、将称取的银浆样品放入烘箱中，在80℃条件下烘烤4～6个小时，然后将银浆样品取出，冷却后用天平称重并记录；
C、将步骤B中得到的银浆样品再次放入烘箱中，在温度条件为150～200℃条件下，烘烤1个小时，然后将银浆样品取出，冷却后用天平称重并记录；
D、将步骤C中得到的银浆样品再次放入烘箱中，在温度条件为350℃条件下，烘烤1个小时，然后将银浆样品取出，冷却后用天平称重并记录；
E、重复步骤D，直到样品称重不再变化为止，将银浆样品的最终重量记为m2；
F、根据公式：银的含量＝m2/m1*100％得到银浆中银元素的含量。
2.根据权利要求1所述的导电银浆材料中银元素含量的测量方法，其特征在于：所述步骤A中称取的银浆质量为0.5～1g。
3.根据权利要求1所述的导电银浆材料中银元素含量的测量方法，其特征在于：所述步骤B、步骤C、步骤D中的冷却方式为自然冷却。
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