[发明专利]检查装置及检查方法

说明书

相关申请的交叉参考

本申请基于并要求于2010年7月26日提交的NO.2010-167385号日本专利申请的优先权，其全文通过参考包含于此文。

技术领域

本发明涉及检查装置和检查方法。

背景技术

近年来，从节省空间、节省电力等环保的观点考虑，作为显示设备，典型如液晶显示器、液晶电视、便携电话、智能手机、电子书、笔记本等，采用液晶面板或有机电致发光面板的商品正在增多。具体的，在智能手机、电子书、便携电话等各种电子设备中，多采用相对构成液晶面板或接触面板的基板、便携电话的盖部件等为透明的部件或者半透明部件。

如果这些透明部件或者半透明部件之上附着伤痕、污痕、异物等，则会使电子设备本身的品质降低。另外，对于透明部件或者半透明部件而言，在构图薄膜(例如包括设计上的外观涂覆、标识语等)时还存在这样的问题，即，如果在电子设备组装前未能检测到这样的薄膜的不良状况，除了使电子设备本身的品质降低之外，更是在维修的时候无法采用其他替代部件，从而造成材料的大量损失。

因此，存在能够对适用这种电子设备中的部件进行检查的检查装置和检查方法的各种提案。

发明内容

通常，根据一个实施例的检查装置，包括：第1单色体，相对于从包含透明部件或半透明部件的检查对象物的法线方向偏离的观察位置，配置于检查对象物的后方；光源，照明检查对象物，并且配置于检查对象物前方的、自身的像没有映写到在观察位置观察的检查对象物上的位置；以及第2单色体，配置于检查对象物前方的、自身的像映写到在观察位置观察的检查对象物上的位置。

根据另一个实施例的检查装置，包括，第1单色体，配置于包含透明部件或半透明部件的检查对象物的后方；光源，照明检查对象物，并且配置于检查对象物前方；以及第2单色体，配置于检查对象物前方，观察检查对象物的观察位置，为检查对象物前方的、从检查对象物的法线方向偏离的位置，偏离映写到检查对象物上的上述光源的像被正反射的位置，且形成在映写到检查对象物上的上述第2单色体的像被正反射的位置上。

根据另一个实施例的检查方法，在第1单色体的前方配置包含透明部件或半透明部件的检查对象物，通过配置于检查对象物前方的光源来照明检查对象物，遮挡朝向下述观察位置的来自上述光源的光，该观察位置为从检查对象物的法线方向偏离的观察位置，即配置于检查对象物前方的第2单色体的像映写到检查对象物上且上述光源的像没有映写到检查对象物上的观察位置，在上述观察位置检查检查对象物。

附图说明

图1为示意性示出具有本实施形态中说明的检查装置和检查方法的检查对象物的电子设备的结构的俯视图。

图2为示意性示出本实施形态中的检查装置的第1结构例的图。

图3为示意性示出本实施形态中的检查装置观察位置上观察的检查对象物的主视图。

图4为示意性示出本实施形态中的检查装置的第2结构例的图。

图5为示意性示出本实施形态中的检查装置的第3结构例的图。

具体实施方式

下面，参照附图对本实施形态进行详细说明。在各图中，发挥同一或者类似功能的构成要素标注同一附图标记，并省略重复的说明。

图1为示意性示出具有本实施形态中说明的检查装置和检查方法的检查对象物的电子设备的结构的俯视图。

即，电子设备1包括显示面板10。该显示面板10例如为液晶显示面板，由第1基板11、与第1基板11相对向配置的第2基板12、以及保持于该第1基板11和第2基板12之间的未图示的液晶层。在第1基板11的外面，配置有含偏光板等的第1光学元件13。在第2基板12的外面，配置有含偏光板等的第2光学元件14。另外，在第1基板11上，安装有驱动IC芯片15及柔性配线基板16等。另外，电子设备1所包含的显示面板10还可以是有机电致发光面板。

另外，电子设备1还具有配置于成为显示面板10的显示面或者观察面的前面的盖部件20。盖部件20配置于第2基板12的上方。在图示的例子中，在显示面板10和盖部件20之间形成空间，但是，也可以是透明部件介于显示面板10和盖部件20之间，还可以是显示面板10和盖部件20相接触。

该盖部件20含背面基板21、前面基板22、于背面基板21和前面基板22之间配置的触摸面板元件23、形成于前面基板22的内面(即与显示面板10相对向的背面侧的面)的薄膜24等。另外，与盖部件20分开配置的触摸面板元件23，也有附加到盖部件20上的情况，也有附加到显示面板10上的情况。