[发明专利]一种元器件定点开封的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种元器件的失效分析方法，特别涉及一种对元器件使用定点开封对元器件进行失效分析的方法。

背景技术

开封试验是一种破坏性试验，主要针对封装器件。对于EMC封装的元器件一般利用混酸把元器件外面的封装体腐蚀掉露出芯片，为后续的实验做准备。业内一般使用自动开封机器开封，或者是把元器件焊接在铜框架上，焊接时一般把铜框架沾上助焊剂，然后插入锡炉，沾上锡后，将框架沾锡部分平放在锡液表面，用镊子夹住元器件沾上助焊剂，放到框架上，等元器件全部焊接好以后，把元器件放入预备好的混酸中开封。自动开封机器开封的优点是比较安全也比较方便，缺点是不能很好的控制腐蚀时间，只能根据个人经验来设定时间，如果时间太短，不能把芯片表面的塑封体除尽，如果时间太长，铜线器件上的铜线有可能被腐蚀掉，而且实验中元器件表面开封窗口的大小完全取决于机器配套的治具，不能根据需要任意设定开封的位置。第二种方法的优点是批量实验的时候速度快，后续拍照比较方便，缺点是使用铜框架等耗材成本高，而且不能定点开封。因此，如何对元器件进行定点开封且降低开封成本，成为该技术领域亟待解决的问题。

发明内容

为了解决现有开封方法不能针对需要分析的位置进行开封试验以及开封成本高的问题，本发明提出以下技术方案：

一种元器件定点开封的方法，包括以下步骤：

A、确认需要进行开封试验的元器件，拍摄元器件的实物照片和X-ray照片，根据照片确定元器件相应的芯片位置；

B、使用单面带胶的铝箔纸将元器件紧密包裹起来，用小刀将需要开封位置上的铝箔纸切割取出；

C、用吸管将调好的热混酸滴在元器件上切除了铝箔纸的塑封料上直至芯片露出；

D、将元器件放入丙酮溶液，将盛装丙酮溶液的容器放入到超声波清洗机中对元器件进行清洗，直至元器件表面被腐蚀的塑封料除尽；E、揭去元器件表面的铝箔纸，并将元器件干燥。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤C中的热混酸温度为90℃。

作为本发明的另一种优选方案，所述步骤E中元器件的干燥方法为热风吹干。

本发明带来的有益效果是：

1、本发明方法步骤简单，操作方便，使用耗材少，降低了元器件开封的成本；

2、本发明方法可根据元器件需要开封观察的特定位置进行定位开封；

3、本发明方法通过对元器件需要分析的位置进行开窗，可以保证元器件上引脚不受腐蚀，便于后续的电测工序；

4、本发明方法可以随时观察元器件表面塑封料的腐蚀程度，确保不会损坏打线。

具体实施方式

下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

本实施例对一C-MOS器件进行开封检测，其具体操作步骤如下：

A、拍摄该C-MOS器件的实物照片和X-ray照片，根据实物照片和X-ray照片确定该C-MOS器件相应的芯片位置；

B、使用单面带胶的铝箔纸将该C-MOS器件紧密包裹起来，确保铝箔纸与该C-MOS器件紧密贴合，然后用小刀将需要开封位置上的铝箔纸切割取出；

C、将调好的混酸加热到90℃，用吸管将调好的热混酸滴在该C-MOS器件上切除了铝箔纸的塑封料上，直至芯片露出；

D、将元器件放入丙酮溶液，将盛装丙酮溶液的容器放入到超声波清洗机中对元器件进行清洗，直至元器件表面被腐蚀的塑封料除尽；

E、揭去元器件表面的铝箔纸，并使用热风吹干的方法将元器件干燥，将开封好的元器件进行后续的观察分析，发现该C-MOS器件的芯片有烧伤的痕迹。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域的技术人员在本发明所揭露的技术范围内，可不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。