[发明专利]一种发射极上黑硅结构的太阳能电池及其制备方法有效
申请号: | 201110263591.8 | 申请日: | 2011-09-07 |
公开(公告)号: | CN102306664A | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | 夏洋;刘邦武;沈泽南;李超波;刘杰;李勇滔 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发射极 上黑硅 结构 太阳能电池 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及太阳能电池器件制造技术领域,特别涉及一种发射极上黑硅结构的太阳能电池及其制备方法。
背景技术
地球上不可再生能源的不断减少,使得能源价格日益上涨,国家之间的能源争夺不断加剧,迫切需要开发出可再生的新能源。太阳能作为一种资源丰富,绿色环保的可再生能源,将在未来新能源中起到主体供应地位。太阳能电池作为一种有效利用太阳能光能的器件,为太阳能的利用提供了一种有效的解决方案。因此,高效、低成本的太阳能电池将成为太阳能电池探索研究的方向。
目前,研究高效太阳能电池的一个方式是在硅片表面制备陷光结构,黑硅结构作为其中一种陷光方式能有效提高太阳光的吸收率,增加光生载流子数目,然而由于表面陷光结构的粗糙度增大,导致表面复合速率增大,降低了电极收集到的电荷量。针对上述存在的缺陷,可以通过在黑硅表面沉积氮化硅得以解决,从而在一定程度上钝化黑硅结构,获得高的短路电流。但是,使用钝化黑硅结构制备太阳能电池过程中,在磷扩散制备pn结时,由于黑硅表面的粗糙度使得pn结掺杂分布不均匀,降低了开路电压,继而降低了太阳能电池的效率。
发明内容
为了解决黑硅太阳能电池开路电压低,pn结掺杂分布不均匀等问题,本发明提供了一种发射极上黑硅结构的太阳能电池,所述太阳能电池包括金属栅线电极、钝化层、发射极、黑硅层、硅衬底和金属背电极;所述金属背电极位于所述硅衬底的背面,所述发射极位于所述硅衬底上,所述黑硅层位于所述发射极上,所述钝化层位于所述黑硅层上,所述金属栅线电极位于所述钝化层上。
所述硅衬底为p型单晶硅或多晶硅;所述发射极的掺杂类型为n型,所述发射极的结深为400-700nm。
所述硅衬底为n型单晶硅或多晶硅;所述发射极的掺杂类型为p型,所述发射极的结深为400-700nm。
所述金属栅线电极为Ag线、Al线或者其合金线,用于正面电极的引出;所述金属背电极由Al、Ag或者Cu金属制成,用于背面电极的引出。
所述黑硅层为多孔状或针尖状黑硅结构;所述多孔状黑硅结构的孔深为100-200nm,所述针尖状黑硅结构的针尖高度为100-200nm。
所述钝化层为SiO2层或者SiNx层。
本发明还提供了一种发射极上黑硅结构的太阳能电池的制备方法,所述方法包括:
在硅衬底的背面制备金属背电极;
在所述硅衬底表面制备发射极;
在所述发射极上制备黑硅层;
在所述黑硅层上制备钝化层;
在所述钝化层制备金属栅线电极;
烧结所述硅衬底。
所述在硅衬底的背面制备金属背电极的步骤具体为:在硅衬底的背面通过丝网印刷制备金属背电极。
所述在所述钝化层制备金属栅线电极的步骤具体为:在所述钝化层通过丝网印刷制备金属栅线电极。
所述在所述黑硅层上制备钝化层的步骤具体为:在所述黑硅层通过高温热氧化或者PECVD沉积生长方式制备钝化层。
本发明提供的太阳能电池通过在硅衬底上先掺杂制备发射极,可形成掺杂均匀的pn结,提高了开路电压;本发明提供的太阳能电池的黑硅结构尺寸相对较小,减少了表面粗糙度,降低了表面复合率,进而提高了短波量子效率。
附图说明
图1是本发明实施例发射极上黑硅结构的太阳能电池的结构示意图;
图2是本发明实施例发射极上黑硅结构的太阳能电池量子效率图;
图3是本发明实施例发射极上黑硅结构的太阳能电池的制备方法流程图。
具体实施方式
为了深入了解本发明,下面结合附图及具体实施例对本发明进行详细说明。
参见图1,本发明实施例提供了一种发射极上黑硅结构的太阳能电池,该太阳能电池包括金属栅线电极1、钝化层2、发射极3、黑硅层6、硅衬底4和金属背电极5。其中,金属背电极5位于硅衬底4的背面,发射极3位于硅衬底4上,黑硅层6位于发射极3上,钝化层2位于黑硅层6上,金属栅线电极1位于钝化层2上。
硅衬底4可以为p型单晶硅或多晶硅,发射极3的掺杂类型为n型;或者,硅衬底4可以为n型单晶硅或多晶硅,发射极3的掺杂类型为p型。在实际应用中,发射极3可以通过高温扩散或者离子注入的方式形成, 发射极3的掺杂浓度高,结深在400-700nm,以便于在发射极3上制备出黑硅结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的