[发明专利]电路板的标记检知及偏移量检知的方法及其置件方法

权利要求书

1.一种电路板的标记检知及偏移量检知的方法，其特征在于，包含以下步骤：

提供至少一电路板，其由多个子板所组成，其中该电路板上与所述多个子板上分别具有定位标靶；

提供一检知装置，该检知装置至少包括一高精度的滑移模块、一滑动地架设于该滑移模块的图像撷取单元以及一运算单元，并利用该图像撷取单元撷取该电路板上的定位标靶与所述多个子板上的定位标靶的图像；以及

利用该运算单元分析该电路板上的定位标靶与所述多个子板上的定位标靶的图像，以根据该电路板上的定位标靶与所述多个子板上的定位标靶计算每一该子板与该电路板在X轴、Y轴及角度的相对偏移量(X，Y，Θ)，且所述多个偏移量的精度小于±10μm。

2.如权利要求1所述的电路板的标记检知及偏移量检知的方法，其特征在于，在提供一检知装置的步骤中，该图像撷取单元为线性扫瞄器。

3.如权利要求1所述的电路板的标记检知及偏移量检知的方法，其特征在于，该滑移模块具有一滑轨及一耦接于该图像撷取单元的解码器，该滑轨的真直性经激光干涉仪校准及软件补正，其精度为在300mm长度下偏移量不超过1um，该解码器计算该图像撷取单元在该滑轨上所移动的距离。

4.如权利要求1所述的电路板的标记检知及偏移量检知的方法，其特征在于，在利用该运算单元分析该电路板上的定位标靶与所述多个子板上的定位标靶的图像的步骤中，是利用该电路板的定位标靶的位置计算该电路板的中心点坐标，且利用每一该子板的定位标靶的位置计算每一该子板的中心点坐标，以计算出每一该子板与该电路板的相对偏移量。

5.如权利要求1所述的电路板的标记检知及偏移量检知的方法，其特征在于，在利用该运算单元分析该电路板的图像的步骤之前还包括一设定每一该子板的尺寸的步骤。

6.如权利要求5所述的电路板的标记检知及偏移量检知的方法，其特征在于，在利用该运算单元分析该电路板的图像的步骤中，该运算单元定义一检知区域对应于该电路板的图像。

7.一种置件方法，其特征在于，包括以下步骤：

提供至少一电路板，其由多个子板所组成，其中该电路板上与所述多个子板上分别具有定位标靶；

提供一检知装置，该检知装置至少包括一高精度的滑移模块、一滑动地架设于该滑移模块的图像撷取单元以及一运算单元，并利用该图像撷取单元撷取该电路板上的定位标靶与所述多个子板上的定位标靶的图像；以及

利用该运算单元分析该电路板上的定位标靶与所述多个子板上的定位标靶的图像，以根据该电路板上的定位标靶与所述多个子板上的定位标靶计算每一该子板与该电路板的相对偏移量；以及

提供一独立于该检知装置的元件着装机台，该元件着装机台设置于该检知装置的下游，且该元件着装机台根据每一该子板的偏移量进行补正及根据补正的结果在每一该子板上进行一置件步骤。

8.如权利要求7所述的置件方法，其特征在于，在提供一独立于该检知装置的元件着装机台的步骤中，该元件着装机台先分析该电路板上的定位标靶，以得知每一该子板与该电路板的相对偏移量，接着根据该每一该子板的偏移量将该电路板的每一该子板的偏移加以补正，再进行该置件步骤。

9.如权利要求7所述的置件方法，其特征在于，在提供一检知装置的步骤中，该图像撷取单元为线性扫瞄器。

10.如权利要求7所述的置件方法，其特征在于，该滑移模块具有一滑轨及一耦接于该图像撷取单元的解码器，该滑轨的真直性为在300mm长度下偏移量不超过1um，该解码器计算该图像撷取单元在该滑轨上所移动的距离。

11.如权利要求7所述的置件方法，其特征在于，在利用该运算单元分析该电路板上的定位标靶与所述多个子板上的定位标靶的图像的步骤中，是利用该电路板的定位标靶的位置计算该电路板的中心点坐标，且利用每一该子板的定位标靶的位置计算每一该子板的中心点坐标，以计算出计算每一该子板与该电路板的相对偏移量。