[发明专利]改善存储装置的可靠性、可用性及可维修性有效

专利信息
申请号: 201110266608.5 申请日: 2007-06-29
公开(公告)号: CN102394112A 公开(公告)日: 2012-03-28
发明(设计)人: K·S·贝恩斯 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 朱海煜
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 改善 存储 装置 可靠性 可用性 维修
【权利要求书】:

1.一种存储装置,包括:

存储核心,它具有:存储数据位的第一部分和存储对应于所述数据位的纠错码(ECC)位(存储的ECC位)的第二部分;和

纠错逻辑部件,它与所述存储核心在同一芯片上,所述纠错逻辑部件包括纠错码ECC计算逻辑部件来计算对应于所述数据位的纠错码ECC位(计算的ECC位),其中所述纠错逻辑部件进一步包括用来纠正所述数据位中的错误的ECC纠错逻辑部件,用来比较所存储的纠错码ECC位和所计算的纠错码ECC位的比较器,用来产生对应于所述数据位的循环冗余码CRC位的循环冗余码(CRC)产生逻辑部件和用来将所述循环冗余码CRC位和所述数据位发送给请求器的成帧逻辑部件。

2.如权利要求1所述的存储装置,其中,所述存储核心包括具有对应于第一部分的第一存储体和对应于第二部分的第二存储体的分离的存储体对。

3.如权利要求1所述的存储装置,其中:所述存储装置包括动态随机存取存储器(DRAM)设备。

4.如权利要求1所述的存储装置,其中所述存储装置能够在错误检验模式和非错误检验模式中操作。

5.如权利要求4所述的存储装置,其中所述存储装置进一步包括:

映射逻辑部件,用来将所存储的纠错码ECC位映射到所述存储核心的第二部分。

6.一种方法,包括:

从存储核心的第一部分读出数据位,

从所述存储核心的第二部分读出存储的纠错码(ECC)位;

用纠错码ECC计算逻辑部件来产生计算的纠错码ECC位,其中,所述存储核心和所述纠错码ECC计算逻辑部件位于共用集成电路上;

比较所存储的纠错码ECC位和所计算的纠错码ECC位来判定所存储的纠错码ECC位是否与所计算的纠错码ECC位匹配;以及

在纠正单一位错误后,将循环冗余码CRC位和所述数据位发送给请求器。

7.如权利要求6所述的方法,其中,所述存储核心包括具有对应于第一部分的第一存储体和对应于第二部分的第二存储体的分离的存储体对。

8.如权利要求6所述的方法,进一步包括:

如果所存储的纠错码ECC位与所计算的纠错码ECC位匹配,则计算对应于所述数据位的循环冗余码(CRC)位;以及

将所述循环冗余码CRC位和所述数据位发送给请求器。

9.如权利要求8所述的方法,进一步包括:

如果所存储的纠错码ECC位与所计算的纠错码ECC位不匹配,则判定所述数据位是否包含单一位错误;以及

如果所述数据位包含单一位错误,则用纠错码ECC纠错逻辑部件来纠正所述单一位错误,其中,所述纠错码ECC纠错逻辑部件和所述存储核心位于共用集成电路上。

10.如权利要求6所述的方法,其中,将所述循环冗余码CRC位和所述数据位发送到所述请求器包括:

将所述数据位形成为读出数据帧;

将所述循环冗余码CRC位附加到所述读出数据帧;以及

将所述读出数据帧发送给所述请求器。

11.如权利要求6所述的方法,进一步包括:

若所述数据位不包含单一位错误,则向请求器报告错误。

12.一种系统,包括:

动态随机存取存储器(DRAM)设备,包括:

包括第一存储体和第二存储体的分离的存储体对,其中,如果所述DRAM设备处于错误检验模式中,则数据位将被存储在第一存储体中而对应的纠错码(ECC)位(存储的ECC位)将被存储在第二存储体中,以及

与所述分离的存储体对在同一芯片上的纠错逻辑部件,所述纠错逻辑部件包括用来纠正所述数据位中的错误的纠错码ECC纠错逻辑部件,用来比较所存储的纠错码ECC位和所计算的纠错码ECC位的比较器,用来产生对应于所述数据位的循环冗余码CRC位的循环冗余码(CRC)产生逻辑部件,和用来将循环冗余码CRC位和所述数据位发送给请求器的成帧逻辑部件;以及

与所述DRAM设备耦合的请求器。

13.如权利要求12所述的系统,其中,所述纠错逻辑部件进一步包括:

纠错码ECC纠错逻辑部件,用来纠正数据位中的错误。

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