[发明专利]TFT阵列基板的制作方法及TFT阵列基板无效

专利信息
申请号: 201110280163.6 申请日: 2011-09-20
公开(公告)号: CN102299104A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 覃事建 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77
代理公司: 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 代理人: 邢涛;田夏
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: tft 阵列 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶显示领域,更具体的说,涉及-种液晶面板的TFT阵列基板的制作方法及TFT阵列基板。

背景技术

LCD液晶面板是液晶显示器的重要组件之一,现有的TFT-LCD由于其功耗低,体积小,无辐射等优点,被广泛用于液晶显示器中。

液晶面板包括阵列基板和彩膜基板,液晶位于两者之间。目前,制作TFT阵列基板(TFT ARRAY基板)主要是通过构图工艺在玻璃基板上制作成结构所需要的图形,来形成TFT元件以及相应的布线。由于TFT元件及玻璃基板上的布线具有多层次,因而需要实施多次构图工艺才能完成阵列基板的制作,最初的阵列基板需要7次构图工艺才能完成阵列基板的制作,而现在,经过技术的发展和改善,已经形成了只需4次构图的工艺技术,大大减低了液晶面板的制作成本及提高了生产效率,但是,目前的4次构图工艺技术其制程仍然较为复杂,还需使用半曝光技术,制作难度较高,此外还需要使用OC层作为绝缘材料,增加了生产的难度。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种效率较高,且制作难度较低的TFT阵列基板的制作方法。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:

一种TFT阵列基板的制作方法,包括以下步骤:

A、依次沉积金属薄膜、绝缘层和半导体层后,用构图方法制作栅线和栅极;

B、沉积绝缘层,用构图方法制作沟道区域保护层;

C、依次沉积掺杂半导体层、金属层,用构图方法形成源极、漏极和数据线,并切断掺杂半导体层及金属层形成通电沟道;

D、沉积ITO层,用构图方法使ITO层形成像素电极。

优选的,所述的步骤A中,先采用溅射法形成一层金属薄膜,再用气相沉积法在金属薄膜上依次沉积SiNx绝缘层和a-Si半导体层。金属薄膜作用于制作栅极以及栅线,通过溅射法所获得的薄膜结合好,纯度高,致密性好,满足栅极及栅线的要求,绝缘层和半导体层通过常用气相沉积法形成,制程简单。

优选的,所述的步骤A中,通过光刻法作为构图方法形成栅线和栅极。使用光刻法形成栅极、栅线及有源层较为方便。

优选的,所述步骤B中,所述绝缘层为SiNx层,所述的SiNx层通过气相沉积法在半导体层上沉积形成。溅射法所获得的薄膜结合好,纯度高,致密性好,使将作为背沟道保护的绝缘层具有较好内部结构,效果更好。

优选的,所述的步骤B中,通过光刻法作为构图方法形成TFT的沟道区域保护层。

优选的,所述步骤C中,使用气相沉积法沉积N+a-Si形成掺杂半导体层,再用溅射法在该掺杂半导体层上沉积金属层。溅射法所获得的薄膜结合好,纯度高,致密性好。

优选的,所述的步骤C中,通过光刻法作为构图方法形成TFT的源极、漏极和数据线。使用光刻法形成源极、漏极和数据线较为方便。

优选的,所述的步骤C中,通过干刻的方法切断掺杂半导体层形成通电沟道。干刻制程简单快速。

优选的,所述步骤D中,所述ITO层是通过溅射法沉积形成的。

优选的,所述的步骤D中,通过光刻法作为构图方法使ITO层形成像素电极,并使像素电极与漏极相连接,并在数据线、源极和漏极上分别形成与之相同的图案的ITO层。

一种使用上述TFT阵列基板的制作方法制成的TFT阵列基板。

本发明由于采用4次构图技术,通过第一次构图完成栅极、栅线及有源层的制作,并且像素电极、数据线、源极、漏极及沟道等都是通过完全显影的光刻或干刻直接形成,不需要使用半曝光技术,且不需要使用OC作为绝缘层,大大降低了阵列基板的制作难度,减少了使用的材料,从而降低了阵列基板的生产成本,提高了生产效率。其形成的TFT器件为背沟道保护型,有利于减小器件关态电流。

附图说明

图1是本发明实施例的步骤1形成的结构示意图,

图2是本发明实施例的步骤2形成的结构示意图,

图3是本发明实施例的步骤3形成的结构示意图,

图4是本发明实施例的步骤4形成的结构示意图,

图5是本发明实施例的制作流程示意图。

其中:1、玻璃基板;2、金属薄膜;3、绝缘层;4、半导体层;5、SiNx层;6、掺杂半导体层;7、源极;8、漏极;9、ITO层。

具体实施方式

下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。

本发明实施例中的TFT阵列基板的制作方法流程如图1-图5所示,包括以下步骤:

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