[发明专利]TFT阵列基板的制作方法及TFT阵列基板无效
申请号: | 201110280163.6 | 申请日: | 2011-09-20 |
公开(公告)号: | CN102299104A | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 覃事建 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 邢涛;田夏 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | tft 阵列 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及液晶显示领域,更具体的说,涉及-种液晶面板的TFT阵列基板的制作方法及TFT阵列基板。
背景技术
LCD液晶面板是液晶显示器的重要组件之一,现有的TFT-LCD由于其功耗低,体积小,无辐射等优点,被广泛用于液晶显示器中。
液晶面板包括阵列基板和彩膜基板,液晶位于两者之间。目前,制作TFT阵列基板(TFT ARRAY基板)主要是通过构图工艺在玻璃基板上制作成结构所需要的图形,来形成TFT元件以及相应的布线。由于TFT元件及玻璃基板上的布线具有多层次,因而需要实施多次构图工艺才能完成阵列基板的制作,最初的阵列基板需要7次构图工艺才能完成阵列基板的制作,而现在,经过技术的发展和改善,已经形成了只需4次构图的工艺技术,大大减低了液晶面板的制作成本及提高了生产效率,但是,目前的4次构图工艺技术其制程仍然较为复杂,还需使用半曝光技术,制作难度较高,此外还需要使用OC层作为绝缘材料,增加了生产的难度。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种效率较高,且制作难度较低的TFT阵列基板的制作方法。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:
一种TFT阵列基板的制作方法,包括以下步骤:
A、依次沉积金属薄膜、绝缘层和半导体层后,用构图方法制作栅线和栅极;
B、沉积绝缘层,用构图方法制作沟道区域保护层;
C、依次沉积掺杂半导体层、金属层,用构图方法形成源极、漏极和数据线,并切断掺杂半导体层及金属层形成通电沟道;
D、沉积ITO层,用构图方法使ITO层形成像素电极。
优选的,所述的步骤A中,先采用溅射法形成一层金属薄膜,再用气相沉积法在金属薄膜上依次沉积SiNx绝缘层和a-Si半导体层。金属薄膜作用于制作栅极以及栅线,通过溅射法所获得的薄膜结合好,纯度高,致密性好,满足栅极及栅线的要求,绝缘层和半导体层通过常用气相沉积法形成,制程简单。
优选的,所述的步骤A中,通过光刻法作为构图方法形成栅线和栅极。使用光刻法形成栅极、栅线及有源层较为方便。
优选的,所述步骤B中,所述绝缘层为SiNx层,所述的SiNx层通过气相沉积法在半导体层上沉积形成。溅射法所获得的薄膜结合好,纯度高,致密性好,使将作为背沟道保护的绝缘层具有较好内部结构,效果更好。
优选的,所述的步骤B中,通过光刻法作为构图方法形成TFT的沟道区域保护层。
优选的,所述步骤C中,使用气相沉积法沉积N+a-Si形成掺杂半导体层,再用溅射法在该掺杂半导体层上沉积金属层。溅射法所获得的薄膜结合好,纯度高,致密性好。
优选的,所述的步骤C中,通过光刻法作为构图方法形成TFT的源极、漏极和数据线。使用光刻法形成源极、漏极和数据线较为方便。
优选的,所述的步骤C中,通过干刻的方法切断掺杂半导体层形成通电沟道。干刻制程简单快速。
优选的,所述步骤D中,所述ITO层是通过溅射法沉积形成的。
优选的,所述的步骤D中,通过光刻法作为构图方法使ITO层形成像素电极,并使像素电极与漏极相连接,并在数据线、源极和漏极上分别形成与之相同的图案的ITO层。
一种使用上述TFT阵列基板的制作方法制成的TFT阵列基板。
本发明由于采用4次构图技术,通过第一次构图完成栅极、栅线及有源层的制作,并且像素电极、数据线、源极、漏极及沟道等都是通过完全显影的光刻或干刻直接形成,不需要使用半曝光技术,且不需要使用OC作为绝缘层,大大降低了阵列基板的制作难度,减少了使用的材料,从而降低了阵列基板的生产成本,提高了生产效率。其形成的TFT器件为背沟道保护型,有利于减小器件关态电流。
附图说明
图1是本发明实施例的步骤1形成的结构示意图,
图2是本发明实施例的步骤2形成的结构示意图,
图3是本发明实施例的步骤3形成的结构示意图,
图4是本发明实施例的步骤4形成的结构示意图,
图5是本发明实施例的制作流程示意图。
其中:1、玻璃基板;2、金属薄膜;3、绝缘层;4、半导体层;5、SiNx层;6、掺杂半导体层;7、源极;8、漏极;9、ITO层。
具体实施方式
下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。
本发明实施例中的TFT阵列基板的制作方法流程如图1-图5所示,包括以下步骤:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造