[发明专利]永磁体剩磁温度系数测量装置及测量方法无效

专利信息
申请号: 201110281911.2 申请日: 2011-09-19
公开(公告)号: CN102445672A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 陈林峰;韩宗虎;陈勇;于文东;王珂;傅鑫;胡强 申请(专利权)人: 中国航空工业第六一八研究所
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 杜永保
地址: 710065 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 永磁体 剩磁 温度 系数 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种永磁体剩磁温度系数测量装置,其特征在于:基于一个非共面环形激光器,该非共面环形激光器内具有四条依次相通的毛细孔,在其中的一条毛细孔中放置有法拉第旋光元件[1],待测永磁体[13]放置在激光器外面靠近法拉第旋光元件[1]的面上,待测永磁体[13]上贴有温度传感器[2],另外,所述非共面环形激光器四条毛细孔两两相交处安装有一对平面镜[6]和一对带稳频压电组件的球面镜[3],其中,合光棱镜[9]安装在平面镜[6]上,并与光电转换器[8]相接,而光电转换器与控制电路[18]相连,该控制电路直接与非共面环形激光器的阴极以及两个阳极[4]相连,同时两个带稳频压电组件的球面镜[3]和温度传感器[2]也与控制电路[18]相连。

2.根据权利要求1所述的永磁体剩磁温度系数测量装置,其特征在于:整个测量装置放置在一个高低温试验箱中,由高低温试验箱提供不同的环境温度。

3.根据权利要求1所述的永磁体剩磁温度系数测量装置,其特征在于:所述四条毛细孔的轴线不在一个平面内。

4.一种基于权利要求1至3任一项所述永磁体剩磁温度系数测量装置的永磁体剩磁温度系数测量方法,其特征在于,选择熔石英玻璃作为旋光元件的材料,基于公式(2),测量非共面环形激光器的偏频量fB随温度的变化量,从而得到永磁体剩磁温度系数,

fB=1πVBdΔvc---(2)]]>

其中,fB为非共面环形激光器的偏频量,V为旋光元件的Verdet系数,B为待测永磁体施加在旋光元件上的磁感应强度,d为旋光元件的厚度,Δvc为非共面环形激光器的空腔频率。

5.根据权利要求4所述的永磁体剩磁温度系数测量方法,其特征在于:其中,verdet系数的温度系数小于10ppm,其厚度d的温度系数为0.5ppm。

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