[发明专利]永磁体剩磁温度系数测量装置及测量方法无效
申请号: | 201110281911.2 | 申请日: | 2011-09-19 |
公开(公告)号: | CN102445672A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 陈林峰;韩宗虎;陈勇;于文东;王珂;傅鑫;胡强 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业第六一八研究所 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 杜永保 |
地址: | 710065 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 永磁体 剩磁 温度 系数 测量 装置 测量方法 | ||
技术领域
本发明属于永磁材料的特性参数测量技术,涉及一种永磁体剩磁温度系数测量装置及测量方法。
背景技术
永磁体剩磁温度系数常用的测量方法是通过测量不同温度下的退磁曲线来实现。现有技术的试样放在两个加热极头之间,两个加热极头设置在磁化装置内,分布为N极和S极。而且样品上缠绕有接在B(J)积分器上的磁通探测线圈,附近设置有接在H积分器上的磁场探测线圈,两个积分器均连接在X-Y记录仪或计算机上。同时励磁电源与磁化装置和B(J)积分器相连。
所述测量装置将测得的T1和T2温度下所对应的Br按(1)式计算得到剩磁的温度系数为:
上述方法要求:在每个温度点测试前,需要用最大磁化场将样品磁化至饱和(或接近饱和),然后在测试温度点完成退磁测试。因而如果要测试样品在某个温度范围内(多个温度点)的剩磁的温度特性,需要进行多次的充磁和退磁处理,而退磁处理工艺较为复杂,难以除尽,增加了实际测量难度。
发明内容
本发明的目的是:提出一种操作简单、精度高的永磁体剩磁温度系数测量装置。
另外,本发明提供一种基于上述测量装置的永磁体剩磁温度系数测量方法。
本发明的技术方案是:一种永磁体剩磁温度系数测量装置,其基于一个非共面环形激光器,该非共面环形激光器内具有四条依次相通的毛细孔,在其中的一条毛细孔中放置有法拉第旋光元件,待测永磁体放置在激光器外面靠近法拉第旋光元件的面上,待测永磁体上贴有温度传感器,另外,所述非共面环形激光器四条毛细孔两两相交处安装有一对平面镜和一对带稳频压电组件的球面镜,其中,合光棱镜安装在平面镜上,并与光电转换器相接,而光电转换器与控制电路相连,该控制电路直接与非共面环形激光器的阴极以及两个阳极相连,同时两个带稳频压电组件的球面镜和温度传感器也与控制电路相连。
整个测量装置放置在一个高低温试验箱中,由高低温试验箱提供不同的环境温度。
所述四条毛细孔的轴线不在一个平面内。
一种基于永磁体剩磁温度系数测量装置的永磁体剩磁温度系数测量方法,选择熔石英玻璃作为旋光元件的材料,基于公式(2),测量非共面环形激光器的偏频量fB随温度的变化量,从而得到永磁体剩磁温度系数,
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