[发明专利]三维微位相差膜的检测方法及系统

权利要求书

1.一种三维微位相差膜的检测方法，利用一个处理单元配合一个影像撷取单元来执行，该影像撷取单元用以撷取对应于一个待检测的三维微位相差膜的一个待检测的微结构影像，其特征在于该方法包含下列步骤：

(A)接收该待检测的微结构影像，其中，该待检测的微结构影像包括多个像素；

(B)根据该待检测的微结构影像的该多个像素分别对应的多个第一色阶，求得对应于该待检测的微结构影像的一个第一色阶分布资讯；

(C)根据步骤(B)所求得的该第一色阶分布资讯，配合一个第一标准色阶分布资讯，求得一个第一色差指标；及

(D)输出对应于步骤(C)所求得的该第一色差指标的检测结果。

2.根据权利要求1所述的三维微位相差膜的检测方法，其特征在于：步骤(B)还根据该待检测的微结构影像的该多个像素分别对应的多个第二色阶及多个第三色阶，分别求得对应于该待检测的微结构影像的一个第二色阶分布资讯及一个第三色阶分布资讯，其中，该多个第一色阶、该多个第二色阶，及该多个第三色阶分别属于色彩空间中的三种颜色成分；

其中，步骤(C)还根据步骤(B)所求得的该第二色阶分布资讯及该第三色阶分布资讯，配合一个第二标准色阶分布资讯及一个第三标准色阶分布资讯，分别求得一个第二色差指标及一个第三色差指标；

其中，步骤(D)输出对应于步骤(C)所求得的该第一色差指标、该第二色差指标，及该第三色差指标的检测结果。

3.根据权利要求2所述的三维微位相差膜的检测方法，其特征在于：步骤(B)所述的该多个颜色成分分别为红色成分、绿色成分，及蓝色成分。

4.根据权利要求1所述的三维微位相差膜的检测方法，其特征在于：在步骤(B)中，对于该待检测的微结构影像的每一像素而言，其对应的该第一色阶为已知的多个连续色阶的其中一者，该第一色阶分布资讯包括该多个连续色阶分别对应的多个第一像素统计值。

5.根据权利要求4所述的三维微位相差膜的检测方法，其特征在于：该影像撷取单元还用以撷取对应于一个标准的三维微位相差膜的一个标准的微结构影像，该方法还包括步骤(C)之前的下列步骤：

(E)接收该标准的微结构影像，其中，该标准的微结构影像包括多个像素；

(F)根据该标准的微结构影像的该多个像素分别对应的多个第一标准色阶，求得对应于该标准的微结构影像的该第一标准色阶分布资讯，其中，该第一标准色阶分布资讯包括该多个连续色阶分别对应的多个第一标准像素统计值；

(G)求得该标准的微结构影像的该多个像素分别对应的该多个第一标准色阶的一个平均值，以作一个第一标准门槛值；及

(H)根据该第一标准色阶分布资讯，及该第一标准门槛值，得到一个第一标准暗态数列。

6.根据权利要求5所述的三维微位相差膜的检测方法，其特征在于：步骤(C)包括下列子步骤：

(c-1)求得该待检测的微结构影像的该多个像素分别对应的该多个第一色阶的一个平均值，以作为一个第一门槛值；

(c-2)根据该第一色阶分布资讯，及该第一门槛值，得到一个第一暗态数列；及

(c-3)根据该第一暗态数列，及该第一标准暗态数列，求得该第一色差指标。

7.依据申请专利范围6所述的三维微位相差膜的检测方法，其特征在于：步骤(H)利用下列条件式，以得到该第一标准暗态数列：

其中，Thr_stand₁代表该第一标准门槛值，0≤i≤n且n为该多个连续色阶的一个上限值，Dark_stand₁(i)代表该第一标准暗态数列，H_stand₁(i)代表该第一标准色阶分布资讯；

其中，子步骤(c-2)利用下列条件式，以得到该第一暗态数列：

其中，Thr_test₁代表该第一门槛值，Dark_test₁(i)代表该第一暗态数列，H_test₁(i)代表该第一色阶分布资讯。