[发明专利]半导体装置的测试模式控制电路及其控制方法

权利要求书

1.一种半导体装置的测试模式控制电路，包括：

测试模式控制模块，所述测试模式控制模块被配置成响应于顺序输入的第一地址信号组和第二地址信号组而产生多个控制信号组；

测试模式传送模块，所述测试模式传送模块被配置成将根据所述多个控制信号组的组合所产生的多个测试模式信号传送至所述半导体装置的电路模块；以及

多个全局线，所述多个全局线被配置成将所述多个控制信号组传送至所述测试模式传送模块。

2.如权利要求1所述的测试模式控制电路，其中，所述测试模式控制模块被配置成响应于所述第一地址信号组而产生所述多个控制信号组的一部分，且响应于所述第二地址信号组而产生所述多个控制信号组的其余部分。

3.如权利要求1所述的测试模式控制电路，其中，所述测试模式传送模块包括多个锁存器阵列，所述多个锁存器阵列中的每个包括多个锁存器，且所述多个锁存器与所述半导体装置的多个电路模块连接。

4.如权利要求3所述的测试模式控制电路，其中，所述多个控制信号组包括第一控制信号组、第二控制信号组和第三控制信号组。

5.如权利要求4所述的测试模式控制电路，还包括译码逻辑，所述译码逻辑与所述全局线连接且被配置成将所述第一控制信号组译码并将译码的第一控制信号组输出至所述测试模式传送模块。

6.如权利要求4所述的测试模式控制电路，其中，响应于所述第一控制信号组而选择所述多个锁存器阵列中的一个，且响应于所述第二控制信号组而选择所述锁存器阵列的所述多个锁存器中的一个。

7.一种半导体装置的测试模式控制电路，包括：

测试模式控制模块，所述测试模式控制模块被配置成响应于顺序输入的第一地址信号组和第二地址信号组而产生多个初级控制信号组，且响应于测试复位信号而将所述多个初级控制信号组和多个熔丝信号组中的一组输出作为多个控制信号组；

测试模式传送模块，所述测试模式传送模块被配置成将根据所述多个控制信号组的组合所产生的多个测试模式信号传送至所述半导体装置的多个电路模块中的一个；以及

熔丝组阵列，所述熔丝组阵列被配置成响应于计数信号而输出所述多个熔丝信号组。

8.如权利要求7所述的测试模式控制电路，其中，所述测试模式控制模块被配置成响应于所述第一地址信号组而产生所述多个控制信号组的一部分，且响应于所述第二地址信号组而产生所述多个控制信号组的其余部分。

9.如权利要求7所述的测试模式控制电路，其中，所述测试模式传送模块包括多个锁存器阵列，所述多个锁存器阵列中的每个包括多个锁存器，且所述多个锁存器与所述半导体装置的所述多个电路模块耦接。

10.如权利要求9所述的测试模式控制电路，其中，所述多个控制信号组包括第一控制信号组、第二控制信号组和第三控制信号组。

11.如权利要求10所述的测试模式控制电路，还包括：

多个全局线，所述多个全局线被配置成将所述第一控制信号组传送至所述测试模式传送模块；以及

译码逻辑，所述译码逻辑与所述全局线连接，且被配置成将所述第一控制信号组译码，并将译码的第一控制信号组输出至所述测试模式传送模块。

12.如权利要求10所述的测试模式控制电路，其中，响应于所述第一控制信号组来选择所述多个锁存器阵列中的一个，且响应于所述第二控制信号组来选择所述锁存器阵列的所述多个锁存器中的一个。

13.如权利要求7所述的测试模式控制电路，其中，所述测试模式控制模块包括：

测试模式发生单元，所述测试模式发生单元被配置成响应于所述第一地址信号组而产生第一初级控制信号，且响应于所述第二地址信号组而产生第二初级控制信号和第三初级控制信号；以及

测试模式控制单元，所述测试模式控制单元被配置成响应于选择信号而输出下列之一作为第一至第三控制信号：i、包括所述第一至第三初级控制信号的信号组，以及ii、包括第一至第三熔丝信号的信号组。