[发明专利]一种平面型半导体热电芯片及制备方法有效

专利信息
申请号: 201110296180.9 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN103035833A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 李铁;俞骁;王跃林 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L35/34 分类号: H01L35/34;H01L35/32
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面 半导体 热电 芯片 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明提出了一种平面型半导体热电芯片及制备方法,属于半导体热电发电及微机电加工技术领域。 

背景技术

自1821年发现塞贝克效应以来,随着半导体技术的成熟以及热电材料研究的开展,热电技术逐渐得到了人们的重视。 

基于热电材料塞贝克效应原理的半导体热电器件中,通常将两种不同的半导体材料(通常一种P型,一种N型的半导体材料)串联起来,两者两邻端和相对端分别连接冷源和热源,如果冷源和热源之间存在温度差,根据塞贝克效应,会在串联结构两端形成一个电压,这样就构成一个温差发电机。设半导体材料冷端和热端温度差为ΔTtp,两种材料的塞贝克系数分别为αp和αn,热电偶总对数为N,则这种发电机输出电压可表示为: 

U=N·(αpn)·ΔTtp      (1) 

若发电机总内阻为RTEG,负载电阻为RL,则其输出功率可表示为: 

P=U2(RTEG+RL)2·RL=N2·(αp-αn)2·ΔTtp2(RTEG+RL)2·RL---(2)]]>

若令每一对热电偶的电阻为R,则RTEG=N*R,当RTEG=RL时,器件达到最大输出功率 

Pmax=N·(αp-αn)2·ΔTtp24R---(3)]]>

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