[发明专利]一种平面型半导体热电芯片及制备方法有效
申请号: | 201110296180.9 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN103035833A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 李铁;俞骁;王跃林 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L35/34 | 分类号: | H01L35/34;H01L35/32 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平面 半导体 热电 芯片 制备 方法 | ||
技术领域
本发明提出了一种平面型半导体热电芯片及制备方法,属于半导体热电发电及微机电加工技术领域。
背景技术
自1821年发现塞贝克效应以来,随着半导体技术的成熟以及热电材料研究的开展,热电技术逐渐得到了人们的重视。
基于热电材料塞贝克效应原理的半导体热电器件中,通常将两种不同的半导体材料(通常一种P型,一种N型的半导体材料)串联起来,两者两邻端和相对端分别连接冷源和热源,如果冷源和热源之间存在温度差,根据塞贝克效应,会在串联结构两端形成一个电压,这样就构成一个温差发电机。设半导体材料冷端和热端温度差为ΔTtp,两种材料的塞贝克系数分别为αp和αn,热电偶总对数为N,则这种发电机输出电压可表示为:
U=N·(αp-αn)·ΔTtp (1)
若发电机总内阻为RTEG,负载电阻为RL,则其输出功率可表示为:
若令每一对热电偶的电阻为R,则RTEG=N*R,当RTEG=RL时,器件达到最大输出功率
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