[发明专利]一种微电信运算架构的电路测试装置及方法

权利要求书

1.一种微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，包括：

用于插入主控板MCH的主控板插槽和用于插入先进子卡AMC的先进子卡插槽；

模拟PM单元，用于为插入主控板插槽的MCH以及插入先进子卡插槽的AMC提供电源，并通知处理单元；

处理单元，用于根据模拟PM单元的通知，在确定当前插入MCH时，模拟AMC与插入的MCH建立用于测试的链路，以及在确定当前插入AMC时，模拟MCH与插入的AMC建立用于测试的链路。

2.如权利要求1所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，所述主控板插槽和先进子卡插槽为横向并行排列。

3.如权利要求1所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，所述电路测试装置还包括时钟单元：

所述时钟单元，用于接受所述处理单元的控制，为插入主控板插槽的MCH提供线路参考时钟并接收该MCH发送的同步时钟，以及为插入先进子卡插槽的AMC提供同步时钟并接收该AMC发送的线路参考时钟。

4.如权利要求1所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，

所述模拟PM单元，具体用于检测在主控板插槽中插入MCH时产生的在位信号和/或在先进子卡插槽中插入AMC时产生的在位信号，并根据产生的在位信号，确定当前插入的是MCH、或AMC、或插入MCH和AMC，并通知处理单元。

5.如权利要求1所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，

模拟PM单元，具体用于在先进子卡插槽中插入AMC时，通知处理单元，并在受到处理单元的触发时，为插入的AMC提供电源；

处理单元，具体用于在接收到模拟PM单元的通知时，模拟MCH触发模拟PM单元为插入的AMC提供电源，并利用模拟的MCH与插入的AMC建立链路。

6.如权利要求1～5任一所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，

处理单元，具体用于通过虚拟机的方式模拟MCH和/或AMC。

7.如权利要求1～5任一所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，

处理单元，具体用于在插入MCH和AMC时，先模拟AMC与插入的MCH建立链路，再模拟MCH与插入的AMC建立链路；或者，先模拟MCH与插入的AMC建立链路，再模拟AMC与插入的MCH建立链路；或者，同步模拟MCH与插入的AMC建立链路，以及模拟AMC与插入的MCH建立链路。

8.如权利要求1～5任一所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，所述装置还包括：

交换单元，用于在插入的MCH和/或AMC与处理单元模拟的AMC和/或MCH之间建立链路时，进行链路信号的传递。

9.如权利要求8所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，

所述交换单元，具体用于在插入MCH时，依次将MCH各接口的12条通道与处理单元模拟的AMC建立通信链路，以及在插入AMC时，将AMC的各接口的主备两条通道与处理单元模拟的MCH建立通信链路。

10.如权利要求1～5任一所述的微电信运算架构的电路测试装置，其特征在于，

所述处理单元，还用于在模拟AMC与插入的MCH建立链路时，确定插入的MCH的接口状态，并生成测试报告，以及在模拟MCH与插入的AMC建立链路时，确定插入的AMC的接口状态，并生成测试报告；

所述装置还包括：

上位机接口，用于输出所述测试报告。

11.一种微电信运算架构的电路测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

在电路测试装置的主控板插槽和/或先进子卡插槽中插入MCH和/或AMC后，电路测试装置为插入主控板插槽的MCH以及插入先进子卡插槽的AMC提供电源；

电路测试装置在确定当前插入MCH时，模拟AMC与插入的MCH建立用于测试的链路，以及在确定当前插入AMC时，模拟MCH与插入的AMC建立用于测试的链路。

12.如权利要求11所述的微电信运算架构的电路测试方法，其特征在于，所述主控板插槽和先进子卡插槽为横向并行排列。