[发明专利]一种MOS晶体管电容无效

专利信息
申请号: 201110309971.0 申请日: 2011-10-13
公开(公告)号: CN102412312A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 王一奇;韩郑生;赵发展;刘梦新;毕津顺 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/94 分类号: H01L29/94;H01L29/06;H01L29/08
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 mos 晶体管 电容
【权利要求书】:

1.一种MOS晶体管电容,包括P型体区,n+源区,n+漏区,附着于所述P型体区上的薄栅氧,以及,附着于所述薄栅氧上面的多晶硅栅,其特征在于,所述n+源区和n+漏区分别连接于所述P型体区。

2.根据权利要求1所述的电容,其特征在于,所述P型体区的侧壁被STI包裹,所述P型体区的底部附着有氧化层,所述氧化层底部附着有衬底,使得每个MOS晶体管的P型体区都是独立的。

3.一种基于权利要求1或2所述的MOS晶体管电容的存储单元,其特征在于,包括4个NMOS晶体管N1、N2、N3、N4,2个PMOS晶体管P1、P2和1个权利要求1或2所述的电容,

所述晶体管N1与N2交叉耦合连接,所述晶体管P1与P2交叉耦合连接,所述晶体管P1的漏极与所述晶体管N1的漏极相连,构成第Ⅰ存储节点,所述晶体管P2的漏极与所述晶体管N2的漏极相连,构成第Ⅱ存储节点,所述第Ⅰ存储节点与所述第Ⅱ存储节点构成互补的存储节点,所述晶体管N1的源极和N2的源极分别接地,所述晶体管P1的源极和P2的源极分别接电源,

所述电容的栅极连接于所述晶体管P1的栅极与所述晶体管N1的栅极之间,所述电容的源区、漏区、体区相连,所述电容的源区、漏区、体区均连接于所述晶体管P2的栅极与所述晶体管N2的栅极之间,

所述晶体管N3的源极连接于所述晶体管P1的漏极与所述晶体管N1的漏极之间,所述晶体管N3的漏极连接于位线BL,所述晶体管N4的源极连接于所述P2的漏极与所述晶体管N2的漏极之间,所述晶体管N4的漏极连接于位线BLB,

控制信号WL分别从所述晶体管N3 和N4的栅极输入。

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