[发明专利]电工电子产品低温试验能力验证的方法及其装置

说明书

技术领域

本发明涉及试验能力验证技术领域，具体涉及低温试验能力验证的方法及其装置。

背景技术

环境试验是研究周围使用环境对材料以及产品功能和性能影响的一类可靠性试验。温度作为三大基本环境因素之一，无时不在影响产品的使用。研究表明，40％的产品现场失效跟温度有关。

电工电子产品低温试验是用来检验元件、设备及其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。低温试验的应用范围非常广泛，航天、船舶、家用电器、电子元器件等电工电子产品都要进行低温试验。因此依据标准(GB 2423.1)对产品正确的进行低温试验对正确评估产品能力至关重要。

能力验证是利用实验室间的比对确定实验室的校准/检测能力或检查机构的检测能力的一项活动。能力验证活动指任何用于评价实验室能力的实验室间的比对和测量审核。例如由国家或区域的认可机构及其合作组织、政府部门或行业组织或其它正式能力验证计划的提供者运作的活动。

开展能力验证活动，对涉及检测/校准的相关方具有积极的作用：

对实验室而言，是其满足ISO/IEC 17025标准，进行内部质量控制及对外的能力证明的需要；

对认可机构，是评价认可的实验室检测/校准能力的重要技术途径；

对实验室的客户，是证明实验室具备某项检测能力的重要依据；

对政府主管部门，是监管实验室能力及水平的有效措施。

由于能力验证活动在许多行业中都具有非常显著的作用，因而，目前无论在国际还是在国内，都受到广泛的关注。

操作能力验证的装置要求满足能力验证要求的均匀性，并能在整个能力验证过程中保持稳定，以确保能力验证中出现的不合格不归咎于操作能力验证的装置之间或装置本身的变异性。这一点对整个能力验证活动至关重要，它会直接影响到最终活动的结果。

此外，操作能力验证的装置要求便于运输、成本较低、操作使用方便等，这些特点都对能力验证活动的顺利运作有非常积极意义。

目前行业内尚无操作能力验证的装置能对低温试验能力进行验证。目前行业内仅仅只对低温试验设备进行校准，普遍采取的验证方式是依据相关低温试验设备检定规范，采用温度巡检仪和铂电阻或热电偶等传感器组合的方式对低温实验设备进行校准。此方式存在如下缺点：1)不能设置能力验证装置特性点，本申请中主要是指动作温度点，即装置发生某个动作时所在的某个特定的温度值，普通的低温试验设备校准装置不能设置固定的动作温度点，无法获取固定的温度读取点，因此无法对参加能力验证的实验室实施能力验证活动；2)上述装置同样存在成本高、体积较大、运输不便的问题，上述温度巡检仪等低温试验设备校准装置少则几千，多则上万，如此昂贵的校准设备不宜用来进行能力验证活动，普通的低温试验设备校准装置属于高精密的电子设备，不适合普通物流运输，若采用特殊物流，进一步会提高能力验证活动的成本。

发明内容

本发明的第一个发明目的是提供一种电工电子产品低温试验能力验证的方法。

本发明的另一个发明目的是提供一种利用上述方法完成低温试验能力验证的低温试验能力验证装置。

实现本发明第一个发明目的所采取的技术方案为：一种电工电子产品低温试验能力验证的方法，它包括以下步骤：

1)预设温度检测装置的动作温度点，要求温度检测装置的感温介质温度变化速率≤1℃/min，将温度检测装置的温度感应装置放入待验证装置内部，开启待验证装置操作降温；

2)当温度检测装置检测到待验证装置的内部温度下降到上述预设的动作温度点时，记录待验证装置此时的内部温度值，即记录待验证装置温度值；

3)计算上述待验证装置温度的Z值，当|Z|≤2时，判断待验证装置低温试验能力合格。

步骤3)中所述的中位值、标准IQR值通过如下方式获得：选择18个以上的待验证装置分别进行步骤1)、2)相应得到18个以上的待验证装置温度值，计算上述18个以上的待验证装置温度值的中位值和标准IQR值。

所述的温度检测装置为具有固定的动作温度点的定温复位压力式温控器。

本发明充分分析低温试验能力验证活动中对操作能力验证的装置的要求，提供一种低温试验能力验证的方法，实现了对低温试验进行能力验证的技术上的突破，丰富了实验室的质量控制手段，提高了实验室能力和水平。