[发明专利]碘化铯和掺铊碘化铯单晶的坩埚下降法生长工艺有效

专利信息
申请号: 201110340816.5 申请日: 2011-11-02
公开(公告)号: CN102383195A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 唐华纯;李国荣;曹家军;吴中元 申请(专利权)人: 上海御光新材料科技有限公司
主分类号: C30B29/12 分类号: C30B29/12;C30B11/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 许亦琳;余明伟
地址: 201807 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 碘化 铯单晶 坩埚 下降 生长 工艺
【说明书】:

技术领域

发明涉及纯碘化铯和掺铊碘化铯(CsI:Tl)单晶(以下简称碘化铯晶体)的制备方法,特别是涉及一种用镀膜石英坩埚下降法生长优质碘化铯晶体的新工艺。属于晶体生长技术领域。

背景技术

CsI:Tl晶体是上世纪六十年代发现的一种闪烁晶体,它具有原子序数大,光输出高,光发射峰(550nm)与硅光二极管的灵敏区匹配好、不易潮解等优点,是高能物理、安全检查、核医学成像、地质勘探等领域作为电磁量能器及探测器中的闪烁材料。碘化铯晶体的生长方法有:(1)提拉法;(2)真空下降法;(3)非真空下降法。前两种生长方法的共同特点是在真空条件下使用保护气氛,因此生产成本高、生产效率低:一次只能生长一个晶体;第三种生长方法为目前通常用的生长方法,通常采用石英坩埚或铂金坩埚掺脱氧剂的方式进行生长。直接采用石英坩埚,由于晶体材料与坩埚壁的导热率和热收缩率相差较大,高温熔融态的碘化铯材料可与石英坩埚相互粘连,从而进一步增加了晶体以及坩埚内应力,甚至于石英坩埚破裂晶体开裂,该方法对设备要求高而且存在所得晶体尺寸偏小、不适合工业化生产等缺点;采用铂金坩埚加脱氧剂的下降生长方法,由于生长过程中碘化铯及碘化铊原料产生的蒸汽压高,极易引起铂金坩埚破裂,而导致碘化铯及碘化铊蒸汽溢出污染环境影响人身安全,该方法存在生长成本高且生长出的晶体光输出低、晶体不透明或余辉值高等问题,这样的晶体已经远远不能满足现代工业使用要求,特别是在安全检查及核医学成像等领域的应用需求。

发明内容

本发明的目的在于克服现有生长技术中碘化铯晶体生长效率低,生长成本高、晶体质量不稳定、不适合工业化生产等缺点,提供一种碘化铯单晶的坩埚下降法生长工艺,以生长出高质量、低成本、大尺寸(Dia90×350mm)的碘化铯晶体。

本发明的核心是:对原料进行脱羟、烘干预处理,以消除其中的OH-及吸附水和结晶水;烘干后将原料装入镀有碳膜的石英坩埚中抽真空密封,即可在大气气氛中使用改进的坩埚下降法实现晶体生长。

本发明采用如下技术方案:

一种碘化铯单晶的坩埚下降法生长工艺,包括以下步骤:

1)将原料碘化铯于200±5℃脱OH-后,真空干燥,然后装入坩埚内抽真空并密封;

2)将装料后的坩埚置于下降炉中,进行熔料,控制熔料温度为700~750℃;熔料结束后开始晶体生长,使坩埚匀速向下移动并通过下降炉内温度为600~650℃的区域,下降速度为1.5~3.0mm/h,晶体生长界面温度梯度为30±2℃/cm;晶体生长结束后,以30~50℃/h的速率降温至室温;取出坩埚,将晶体从坩埚中剥离,即得到碘化铯单晶。

所述原料碘化铯为纯度不低于99.999%的高纯碘化铯颗粒料或掺铊碘化铯。所述掺铊碘化铯中掺杂800ppm~1500ppm(重量含量)的碘化铊。

较佳的,所述坩埚为内壁镀有碳膜的石英坩埚,其底部为平底或锥底均可,坩埚尺寸可根据所需生长晶体尺寸定制相应石英坩埚。该镀碳石英坩埚的制备方法为:将石英坩埚置于HF溶液中浸泡,再用去离子水清洗后置于真空烘箱中烘干,最后将石英坩埚放入管式炉中镀碳。镀膜所用的载气为高纯氮气,碳源为甲烷,镀膜温度为1015℃,气体流量为5.5L/h,镀膜时间为4h,冷却时间为17h。

较佳的,可使用平底镀碳石英坩埚进行有籽晶或无籽晶生长。

较佳的,步骤1)中,所述坩埚内抽真空至真空度为1.0×10-2Pa。

较佳的,步骤2)中,所述熔料时间不低于5小时。晶体生长周期为14-15天。

较佳的,所述下降炉的炉膛内沿轴向分成高、中、低三个温度区:高温区的温度控制在700~750℃,中温区的温度控制在600~650℃,低温区控制在300~350℃。所述三个温度区分别承担熔料、生长和保温功能:所述熔料于高温区内进行,所述晶体生长于中温区内进行(即晶体生长的固液界面始终位于中温区内,所述的晶体生长界面温度梯度即为固液界面的温度梯度),晶体生长结束后位于低温区中保温。

较佳的,所述下降炉内设置多个放置坩埚的等效工位,可根据需要同时放置多个坩埚。

本发明的有益效果是:

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