[发明专利]一种提高光刻胶曝光精度的方法无效
申请号: | 201110344422.7 | 申请日: | 2011-11-03 |
公开(公告)号: | CN102354087A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 毛旭;杨晋玲;杨富华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 光刻 曝光 精度 方法 | ||
技术领域
本发明涉及微电子机械系统(MEMS)加工技术领域,尤其涉及一种提高对紫外光具有高透射性的光刻胶曝光精度的方法。
背景技术
近年来,在传统的IC工艺基础上发展起来的微电子机械系统研究进展十分迅速,特别是随着MOEMS和BioMEMS的快速发展,利用各种高性能的聚合物(PMMA胶、聚酰亚胺光刻胶、KMPR胶、SU-8胶等)来实现通常制作工艺难以获得的微结构的研究引起了高度关注,这些聚合物的图形化主要通过光刻工艺实现。因此,曝光精度是制作高质量微纳尺度聚合物结构的关键[1]。
玻璃是除硅以外最受重视的一种材料,具有较好的化学稳定性、大范围的光谱穿透性、良好的绝热性及绝缘性、热稳定性和化学稳定性、价格便宜,容易和硅片键合,较低的光吸收系数及较好的生物兼容性等优点,在许多器件例如生物芯片、光探测器、冷却器、色谱仪以及其它器件的制作中广泛应用。例如,pyrex 7740玻璃和硅片的热膨胀系数相近,键合后不易发生破裂,因此,被成功应用于MEMS器件制作和封装方面。另外,在pyrex 7740玻璃上直接溅射金属作为各种微传感器、执行器的衬底和电极,比硅片重掺杂并溅射金属电极要经济得多,且工艺比较简单。
石英玻璃是由二氧化硅(SiO2)单一组分构成的特种工业技术玻璃,具有其他材料不能取代的一系列特殊性能。其中透明石英玻璃是一种理想的光学材料,在微电子、光电子、精密光学、航天、核技术兵器等高新技术产业具有非常广泛的应用。
光刻是一种在微电子机械系统制造领域中应用最广泛,并还在不断发展的微细加工方法。其原理是在硅等衬底材料上涂覆光刻胶,利用极限分辨率极高的能量束对光刻胶进行曝光、显影,在光刻胶上获得和掩模图像相同的微细几何图形。选择合适的光刻胶是光刻工艺的基础。
随着集成电路、MEMS制造技术的发展,光刻胶不断更新换代,目前使用的光刻胶大多对紫外光有较强的吸收,如S9912正胶、L-300负胶,AZ胶系列等。但是,其它一些光刻胶对紫外光透过率高,如SU-8胶、聚酰亚胺、PMMA和KMPR等。
SU-8光刻胶是一种微纳制造技术中广泛应用的光刻胶[2-3]。由于SU-8光刻胶光敏性较好,吸收系数比较小,因此,可以实现在较短的时间、对几百微米厚的SU-8光刻胶的均匀曝光,可以制作数百微米厚的高深宽比微结构。另外,SU-8胶对波长大于340nm的紫外光的透过率高于80%。这些具有透光性的SU-8光刻胶高深宽比结构是理想的微型光学元器件,如微透镜、微棱镜。
KMPR胶具有侧壁高深宽比,不易腐蚀、不易被等离子体轰击、易于粘附、长期稳定性好,可应用于MEMS、MOEMS和生物芯片等领域。其紫外光穿透率大于60%。
聚酰亚胺是具有热稳定性的光刻胶,在400℃时仍然很稳定。具有良好的抗等离子刻蚀性能,可用于离子注入工艺。聚酰亚胺薄膜对波长为350nm的紫外光透过率为9.4%,对波长为550nm的紫外光透过率为84.2%。
聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)具有高透明度、材料成本低、可加工性好,对可见光的透光率可达92%,对紫外线的透过率为75%。
田学红等已研究了紫外光的衍射效应对光刻精度的影响[4]。在透明衬底上涂敷高透射光刻胶后光刻,由于透过光刻胶和透明衬底的紫外光被光刻机晶片托盘反射,而导致光刻精度急剧降低。这种光刻精度的降低是通常器件制作中不可接受的。但是,到目前为止,这方面的系统研究还未见报道,迫切需要开发更简单有效和低成本的光刻方法。
参考文献:
[1]D.C.Bien,P.V.Rainey,S.J.Mitchell and H.S.Gamble,“Characteri-zation of masking materials for deep glass micromachining,”J.Micromech.Microeng.13,S34-S40,2003.
[2]J.Onishi,K.Makabe,Y.Matsumoto,“Fabrication of micro sloping structures of SU-8 by substrate penetration lithography,”Microsyst Technol.14,1305-1310,2008.
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