[发明专利]静电场干扰测试装置与其方法

权利要求书

1.一种静电场干扰测试装置，包括：

一静电放电产生器，具有一输出端；以及

一导电件，该导电件由导体形成且电连接至一接地端；

其中该导电件邻近于该输出端，用以在该静电放电产生器对该导电件进行空气放电时产生一测试电磁场。

2.如权利要求1所述的静电场干扰测试装置，其中该静电放电产生器为一静电枪，其具有一枪体与该输出端。

3.如权利要求1所述的静电场干扰测试装置，更包括：

一导线，连接于该导电件与该接地端。

4.如权利要求1所述的静电场干扰测试装置，更包括：

一调整臂，连接该导电件与该静电放电产生器，用以调整并固定该导电件的位置。

5.如权利要求1所述的静电场干扰测试装置，更包括：

一绝缘件，设置在该导电件相对于该输出端的另一侧，其中该绝缘件的尺寸大于该导电件的尺寸。

6.如权利要求5所述的静电场干扰测试装置，其中该绝缘件划分为复数个测试区域。

7.如权利要求1所述的静电场干扰测试装置，其中该导电件包括一金属板。

8.如权利要求1所述的静电场干扰测试装置，更包括：

一测试平台，用以置放一待测组件；以及

一机器手臂，设置在该测试平台上，用以连接该静电放电产生器与该导电件；以及

一绝缘件，设置在该测试平台上，并位于该导电件与该测试平台之间。

9.一种静电场干扰测试方法，适用于对一待测组件进行静电场干扰测试，包括：

提供一静电放电产生器；

提供一导电件，使该导电件位于该静电放电产生器的一输出端与该待测组件之间；

使该静电放电产生器对该导电件进行空气放电，以在该待测组件上方产生一测试电磁场；

测试该待测组件是否受该测试电磁场影响；以及

移动该导电件的位置，重复上述产生该测试电磁场与测试该待测组件的步骤，以检测该待测组件产生误动作的区域。

10.如权利要求9所述的静电场干扰测试方法，其中在提供该导电件的步骤更包括：

提供一导线，电性连接于该导电件至一接地端。

11.如权利要求9所述的静电场干扰测试方法，其中在提供该导电件的步骤更包括：

提供一调整臂，连接该导电件与该静电放电产生器，用以调整与固定该导电件的位置。

12.如权利要求9所述的静电场干扰测试方法，其中在提供该导电件的步骤更包括：

提供一绝缘件，使该绝缘件位于该导电件与该待测组件之间。

13.如权利要求12所述的静电场干扰测试方法，其中该绝缘件被划分为复数个测试区域。

14.如权利要求9所述的静电场干扰测试方法，其中该导电件包括一金属板。

15.如权利要求9所述的静电场干扰测试方法，其中该静电放电产生器为一静电枪，其具有一枪体与该输出端。