[发明专利]静电场干扰测试装置与其方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种静电放电测试装置，且特别是有关于一种静电场干扰(electrostatic field interference)测试装置。

背景技术

现在的电子装置，例如行动电话、笔记型计算机、平板计算机、服务器等，都愈来愈精密，其电路集积度也愈来愈高。因此，电磁兼容性(Electromagnetic Compatibility，简称EMC)的测试对产品稳定性而言是相当重要的工作。电磁兼容的目标是在相同环境下，不同的设备在电磁现象下都能正常运转，而且不会产生令其它设备难以忍受的电磁干扰的能力。EMC包括电磁干扰(EMI，Electromagnetic Interference)和电磁耐受性(EMS，Electromagnetic Susceptibility)。EMI为电磁场伴随着电压、电流的作用而产生，EMS表示设备或电子产品在使用过程中不受周遭电磁环境影响的能力。

EMC测试中最重要的包括静电放电防护能力，其测试方式是采用电子枪或静电产生器做电磁兼容性测试。一般的静电枪只拥有产生静电的功能，供EMC(Electromagnetic compatibility)工程师做产品静电问题的除错工具(debug)。一般的除错测试流程中，我们会先针对螺丝孔的接地面做静电测试，如图1所示，其绘示电子装置的静电放电测试示意图。

笔记型计算机内部的螺丝孔111、112是容易发生静电放电的地方。在测试时，EMC工程师可以利用静电枪对螺丝孔111、112处做静电放电(electrostatic discharge，ESD)测试，然后侦测笔记型计算机是否产生问题。由于静电在板子内流动的速度非常快，所以只能由测试结果中，知悉有几个测试点是有问题的以及可能有问题的区域在哪里，例如区域120。但是区域120中可能包括很多电子组件与绕线，在实际操作上很难准确的判断出是哪里出现问题。只能盲目的测试以收敛问题点，这样耗费相当多的时间。

发明内容

本发明提供一种静电场干扰测试装置，其静电放电产生器可对导电件进行空气放电以产生一测试电磁场，此测试电磁场可以用来测试待测组件的电磁兼容性与静电放电防护能力，藉此找寻会发生误动作的区域。

本发明提出一种静电场干扰测试装置，包括静电放电产生器与导电件。静电放电产生器具有一输出端，可以用来产生静电放电。导电件由导体形成且电性连接至一接地端。导电件邻近于输出端并电性连接至接地端，用以在静电放电产生器在对导电件进行空气放电时产生一测试电磁场。

在本发明一实施例中，上述静电场干扰测试装置更包括绝缘件，设置在待测组件与导电件之间，用来避免静电放电损坏到待测组件。

在本发明一实施例中，上述静电场干扰测试装置更包括测试平台与机器手臂，用以设置与移动静电放电产生器与导电件以进行待测组件的测试。

综上所述，本发明利用静电放电产生器与导电件在待测组件上方产生测试用的电磁场，其可仿真静电场强对待测组件的影响。因此，本发明的静电场干扰测试装置可以用来分析待测组件的电磁兼容性以及快速找出误动作的区域。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1为电子装置的静电放电测试示意图。

图2A为本发明第一实施例的静电场干扰测试装置示意图。

图2B为本发明第一实施例的静电场干扰测试装置的组件位置示意图。

图3A为本发明第二实施例的静电场干扰测试装置示意图。

图3B为本发明第三实施例的静电场干扰测试装置示意图。

图4为本发明第四实施例的静电场干扰测试装置示意图。

图5为本发明第五实施例的静电场干扰测试方法流程图。

其中，附图标记说明如下：

111、112：螺丝孔

120：区域

200：静电场干扰测试装置

210：静电放电产生器

211：枪体

212：输出端

220：导电件

224：导线

230：绝缘件

231、232：测试区域

240：待测组件

GND：接地端

300、301：静电场干扰测试装置

330：绝缘件

350：调整臂

400：静电场干扰测试装置

410：测试平台