[发明专利]一种光学式触控屏的调试方法有效
申请号: | 201110350629.5 | 申请日: | 2011-11-08 |
公开(公告)号: | CN102339174A | 公开(公告)日: | 2012-02-01 |
发明(设计)人: | 毛昭凯;张皓崴 | 申请(专利权)人: | 苏州佳世达电通有限公司;佳世达科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮;李辰 |
地址: | 215011 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 式触控屏 调试 方法 | ||
1.一种光学式触控屏的调试方法,所述光学式触控屏包括至少2个光学感测模组、多个光源模组以及由该多个光源模组围成的触控区,其特征在于:所述调试方法包括步骤:
1)动态校对相邻两个光源模组的最佳边界;
2)以所述最佳边界为判断位置,对所述相邻两个光源模组的发光功率进行调试,使该相邻两个光源模组在该最佳边界处的发光强度相同;
3)记录步骤2)之后该相邻两个光源模组的发光曲线,对该发光曲线做一致化处理,使光学感测模组的感光强度均匀化,
所述步骤1)中的校对过程包括如下步骤:
1.1)以相同校对发光功率先后开启所述相邻两个光源模组;
1.2)搜寻该两个光源模组发光曲线的交接点;
1.3)记录该交接点在光学感测模组上的感测位置,该感测位置即为最佳边界。
2.如权利要求1所述的光学式触控屏的调试方法,其特征在于:在步骤1.1)中,所述校对发光功率小于光源模组使光学感测模组发生饱和时的发光功率。
3.如权利要求1所述的光学式触控屏的调试方法,其特征在于:在步骤1.2)中,所述交接点为其中一个光源模组发光曲线对应的感光强度由大于转变成小于另一个光源模组发光曲线对应的感光强度的临界点。
4.如权利要求1所述的光学式触控屏的调试方法,其特征在于:所述步骤2)包括步骤:
2.1)先后开启相邻的两个光源模组,分别记录下该两个光源模组的发光曲线;
2.2)利用所述最佳边界,比对所述相邻两个光源模组在该最佳边界值上的光强大小;
2.3)当所述步骤2.2)中的比对结果为不同时,调节其中光强较弱的一个光源模组发光功率,使两者在该最佳边界值上的光强相同。
5.如权利要求1所述的光学式触控屏的调试方法,其特征在于:所述每个光源模组包括LED点光源和导光器件。
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