[发明专利]电光调变装置、电光检测器及其检测方法

权利要求书

1.一种电光调变装置，包括：

一本体，具有一第一表面及一第二表面；

一导电膜，设置于该第一表面；以及

一透明保护膜，设置于该第二表面并位于一待测物之上。

2.根据权利要求1所述的电光调变装置，其特征在于，该本体为一高分子散布型液晶显示器(PDLC显示器)。

3.根据权利要求1所述的电光调变装置，其特征在于，该本体为一光学晶体，该光学晶体之材质选自磷酸二氢钾、磷酸二氘钾及磷酸二氢铵组成之群。

4.根据权利要求1所述的电光调变装置，其特征在于，该透明保护膜之材质选自金属、有机物、无机物及陶瓷。

5.一种电光检测器，包括：

一光源产生装置，发射一光束；

一电光调变装置，调变该光束后该光束入射一待测物；

一支撑模块，支撑该待测物并使调变后的该光束入射该支撑模块；以及

一取像模块，转变该电光调变装置所反射的该光束而成一图像信号。

6.根据权利要求5所述的电光检测器，其特征在于，该电光调变装置包括一本体、一导电膜以及一透明保护膜，其中该本体含有一第一表面及一第二表面，该导电膜设置于该第一表面，该透明保护膜设置于该第二表面并位于该待测物之上。

7.根据权利要求6所述的电光检测器，其特征在于，该本体为一高分子散布型液晶显示器(PDLC显示器)。

8.根据权利要求6所述的电光检测器，其特征在于，该本体为一光学晶体，该光学晶体的材质选自磷酸二氢钾、磷酸二氘钾及磷酸二氢铵组成的群。

9.根据权利要求6所述的电光检测器，其特征在于，进一步包括一电源模块，该电源模块分别电性连接该导电膜及该待测物。

10.根据权利要求6所述的电光检测器，其特征在于，该电光调变装置另包括一透光基板，该透光基板设置于该导电膜上，该透光基板的面积大于该本体，且该导电膜设置于超出该本体之外的该透光基板上。

11.根据权利要求5所述的电光检测器，其特征在于，该取像模块选自一感光耦合元件(CCD)摄影机及一互补式金属氧化物半导体摄影机。

12.根据权利要求5所述的电光检测器，其特征在于，该支撑模块另包括一反射镜，该反射镜设置于该支撑模块并反射入射于该待测物的该光束。

13.根据权利要求6所述的电光检测器，其特征在于，该透明保护膜的材质选自金属、有机物、无机物及陶瓷。

14.一种利用权利要求5的电光检测器的检测方法，包括下列步骤：

施加驱动电压于该待测物；

将该电光调变装置接地；

投射该光束于该电光调变装置；

撷取该电光调变装置的该图像信号；以及

通过该图像信号判断该待测物是否具有缺陷。

15.根据权利要求14所述的检测方法，其特征在于，进一步包括量测并计算，无施加电压下，该待测物的一平均亮度值。

16.根据权利要求15所述的检测方法，其特征在于，判断该待测物缺陷步骤中进一步包括根据该平均亮度值设定一预设阀值范围，并根据该预设阀值范围筛选该图像信号的多个像素。

17.根据权利要求16所述的检测方法，其特征在于，判断该待测物缺陷步骤中另包括比对该待测物的图案与该些筛选像素并分析该待测物中有缺陷的各该些像素。