[发明专利]改善冠状缺陷的线路结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110369951.2 申请日: 2011-11-18
公开(公告)号: CN102569171A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 张义民;林义闵;林柏伸 申请(专利权)人: 精材科技股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/522
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾桃*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 改善 冠状 缺陷 线路 结构 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种改善冠状缺陷的线路制作方法,包括:

提供一基材,该基材上形成有一电镀籽晶层以及一图案化光致抗蚀剂层,该图案化光致抗蚀剂层具有一开口;

形成一铜层于该开口中,该铜层的底部覆盖于该电镀籽晶层上;

形成一阻障层于该铜层上,该阻障层至少覆盖该铜层的一顶部,其中该阻障层的氧化电位大于该铜层的氧化电位;

移除该图案化光致抗蚀剂层,以进行一蚀刻制作工艺,其中裸露的该铜层及部分该电镀籽晶层经蚀刻而形成一线路层;以及

进行一浸渍制作工艺,以全面性形成一抗氧化层于该阻障层以及该线路层所显露的表面上。

2.如权利要求1所述的线路制作方法,还包括形成一防焊层于该基材上,该防焊层至少覆盖于形成有该抗氧化的该线路层及该阻障层的侧壁。

3.如权利要求1所述的线路制作方法,还包括形成一焊料凸块于覆盖有该抗氧化层的该阻障层的一上表面。

4.如权利要求1所述的线路制作方法,其中该焊料凸块的材质选自由锡、银、铜、金或其组合所组成的群组。

5.如权利要求1所述的线路制作方法,其中该阻障层的材质为镍。

6.如权利要求1所述的线路制作方法,其中该抗氧化层的材质为金。

7.一种改善冠状缺陷的线路结构,包括:

基材;

电镀籽晶层,形成于该基材上;

铜层,形成于该电镀籽晶层上,该铜层及部分该电镀籽晶层经蚀刻而形成一线路层;

阻障层,至少覆盖该铜层的一顶部,该阻障层的氧化电位大于该铜层的氧化电位;以及

抗氧化层,全面性覆盖该阻障层以及该线路层所显露的表面上。

8.如权利要求7所述的线路结构,还包括一防焊层,形成于该基材上,该防焊层至少覆盖形成有该抗氧化的该线路层及该阻障层的侧壁。

9.如权利要求7所述的线路结构,还包括一焊料凸块,形成于覆盖有该抗氧化层的该阻障层的一上表面。

10.如权利要求9所述的线路结构,其中该焊料凸块的材质选自由锡、银、铜、金或其组合所组成的群组。

11.如权利要求7所述的线路结构,其中该阻障层的材质为镍。

12.如权利要求7所述的线路结构,其中该抗氧化层的材质为金。

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