[发明专利]测试模式设定电路

权利要求书

1.一种测试模式设定电路，其控制半导体装置的测试模式，其特征在于，该测试模式设定电路具有：

具有第1阈值电压的第1检测器，其输入端子与测试端子连接；

具有第2阈值电压的第2检测器，其输入端子与所述测试端子连接；以及

逻辑电路，其第1输入端子与所述第1检测器的输出端子连接，第2输入端子与所述第2检测器的输出端子连接，该逻辑电路根据所述第1检测器及第2检测器的输出信号，控制所述半导体装置的测试模式，

在所述测试端子的电压从第1电源的电压超过所述第1检测器的第1阈值电压时，所述逻辑电路被解除复位，将所述半导体装置设定为测试模式，在所述半导体装置处于测试模式的情况下，当所述测试端子的电压超过所述第2检测器的第2阈值电压时，所述逻辑电路对所述测试模式的模式设定进行切换控制。

2.根据权利要求1所述的测试模式设定电路，其特征在于，

该测试模式设定电路具有锁存器，该锁存器连接在所述第1检测器的输出端子与所述逻辑电路的第1输入端子之间，

在所述测试端子的电压从第1电源的电压超过所述第1检测器的第1阈值电压时，所述锁存器被解除复位，在所述测试端子的电压进一步超过所述第2检测器的第2阈值电压时，对所述锁存器进行设置，解除所述逻辑电路的复位。

3.一种测试模式设定电路，其控制半导体装置的测试模式，其特征在于，该测试模式设定电路具有：

具有第1阈值电压的第1检测器，其输入端子与测试端子连接；

具有第2阈值电压的第2检测器，其输入端子与所述测试端子连接；

计数器，其时钟端子与所述第2检测器的输出端子连接，复位端子与所述第1检测器的输出端子连接，该计数器对输入到所述时钟端子的信号进行计数；以及

逻辑电路，其复位端子与所述第1检测器的输出端子连接，输入端子与所述计数器的输出端子连接，该逻辑电路根据所述第1检测器及所述计数器的输出信号，控制所述半导体装置的测试模式，

在所述测试端子的电压从第1电源的电压超过所述第1检测器的第1阈值电压时，所述计数器及所述逻辑电路被解除复位，将所述半导体装置设定为测试模式，在所述半导体装置处于测试模式时，所述计数器输出基于所述第2检测器输出的信号的信号，所述逻辑电路根据所述计数器输出的信号，对所述测试模式的模式设定进行切换控制。

4.根据权利要求3所述的测试模式设定电路，其特征在于，

该测试模式设定电路具有锁存器，该锁存器连接在所述第1检测器的输出端子与所述计数器和所述逻辑电路的复位端子之间，

在所述测试端子的电压从第1电源的电压超过所述第1检测器的第1阈值电压时，所述锁存器被解除复位，在所述测试端子的电压进一步超过所述第2检测器的第2阈值电压时，对所述锁存器进行设置，解除所述计数器和所述逻辑电路的复位。