[发明专利]集成电路内置存储器的数据校验方法及装置

权利要求书

1.一种集成电路内置存储器的数据校验方法，其特征在于，包括以下步骤：

烧录器将源数据写入到集成电路内置的数据校验电路中；

数据校验电路根据烧录器发送的数据校验请求从集成电路内置存储器中读取目标数据，根据所述源数据对所述目标数据进行校验运算，并输出校验结果至烧录器。

2.根据权利要求1所述的校验方法，其特征在于，所述烧录器将源数据写入到集成电路内置的数据校验电路中的步骤之前还包括以下步骤：

烧录器向所述数据校验电路发送数据校验请求；

数据校验电路响应数据校验请求，进入等待校验状态。

3.根据权利要求1或2所述的校验方法，其特征在于，所述烧录器将源数据写入到集成电路内置的数据校验电路中具体为：

烧录器从源数据的地址零开始依次把相应的源数据写入到集成电路内置的数据校验电路中。

4.根据权利要求3所述的校验方法，其特征在于，所述数据校验电路从集成电路内置存储器中读取目标数据具体为：

数据校验电路从集成电路内置存储器中目标数据的地址零开始依次读取相应的目标数据。

5.根据权利要求1所述的校验方法，其特征在于，所述数据校验电路根据源数据，对目标数据进行的校验运算为异或校验运算。

6.根据权利要求5所述的校验方法，其特征在于，所述校验结果为校验错误标志位，所述数据校验电路将校验结果输出至烧录器具体为：

当异或校验运算的结果不为零时，输出至烧录器的校验错误标志位为1；

当异或校验运算的结果为零时，输出至烧录器的校验错误标志位为0。

7.一种集成电路内置存储器的数据校验装置，包括集成电路，所述集成电路内置有存储器，其特征在于，所述集成电路还内置有数据校验电路，所述数据校验电路用于接受烧录器写入的源数据，并根据烧录器发送的数据校验请求从集成电路内置存储器中读取目标数据，根据所述源数据对所述目标数据进行校验运算，并输出校验结果至烧录器。

8.根据权利要求7所述的校验装置，其特征在于，所述数据校验电路包括：

数据接收模块，用于接收所述烧录器所写入的源数据；

数据读取模块，用于读取所述存储器中的目标数据；

数据校验模块，用于根据源数据，对目标数据进行异或校验运算；

校验结果输出模块，用于根据所述数据校验模块的异或校验运算情况，将相应的校验错误标志位输出至烧录器。

9.根据权利要求7或8所述的校验装置，其特征在于，所述烧录器为离线烧录器或在线烧录器。

10.根据权利要求7或8所述的校验装置，其特征在于，所述集成电路与所述烧录器之间的通信接口为IIC、SPI或UART中的任一种接口，或者为自定义的通信接口。