[发明专利]集成电路内置存储器的数据校验方法及装置有效
申请号: | 201110378645.5 | 申请日: | 2011-11-24 |
公开(公告)号: | CN102411994A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 刘小灵;乔爱国;齐凡;谢韶波 | 申请(专利权)人: | 深圳市芯海科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/42 | 分类号: | G11C29/42 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国;陈春艳 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 内置 存储器 数据 校验 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及存储器数据校验技术领域,尤其涉及一种集成电路内置存储器的数据校验方法及装置。
背景技术
现有技术中,为了能够对集成电路内置存储器中的数据进行校验,通常是在集成电路的内部设置一个数据读取电路,通过该数据读取电路把集成电路内置存储器中的数据重新读出到烧录器后再与其源数据进行对比校验,以确保所写入到集成电路内置存储器中数据的正确性。同时为了保护集成电路内置存储器中的数据不被其他非法人员读取而导致数据的泄密,现有技术中是通常采用一种称为“读保护”的加密方式,令“读保护”生效后,集成电路内置存储器中的数据就不能再被任何人读取出来,从而保证了集成电路内置存储器中数据的安全性。
然而,由于集成电路中数据读取电路的存在,无论采用何种数据读取加密方式,破解者总能找到相应的破解方法破解其数据读取加密方式而读取到集成电路内置存储器中的数据,从而导致集成电路内置存储器中的数据被非法读取而导致泄密。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种集成电路内置存储器的数据校验方法及装置,旨在既确保集成电路内置存储器中数据的正确性又避免集成电路内置存储器中数据被非法读取而导致泄密的风险。
为了达到上述目的,本发明提出一种集成电路内置存储器的数据校验方法,包括以下步骤:
烧录器将源数据写入到集成电路内置的数据校验电路中;
数据校验电路根据烧录器发送的数据校验请求从集成电路内置存储器中读取目标数据,根据所述源数据对所述目标数据进行校验运算,并输出校验结果至烧录器。
优选地,所述烧录器将源数据写入到集成电路内置的数据校验电路中的步骤之前还包括以下步骤:
烧录器向所述数据校验电路发送数据校验请求;
数据校验电路响应数据校验请求,进入等待校验状态。
优选地,所述烧录器将源数据写入到集成电路内置的数据校验电路中具体为:
烧录器从源数据的地址零开始依次把相应的源数据写入到集成电路内置的数据校验电路中。
优选地,所述数据校验电路从集成电路内置存储器中读取目标数据具体为:
数据校验电路从集成电路内置存储器中目标数据的地址零开始依次读取相应的目标数据。
优选地,所述数据校验电路根据源数据,对目标数据进行的校验运算为异或校验运算。
优选地,所述校验结果为校验错误标志位,所述数据校验电路将校验结果输出至烧录器具体为:
当异或校验运算的结果不为零时,输出至烧录器的校验错误标志位为1;
当异或校验运算的结果为零时,输出至烧录器的校验错误标志位为0。
本发明还提出一种集成电路内置存储器的数据校验装置,包括集成电路,所述集成电路内置有存储器,所述集成电路还内置有数据校验电路,所述数据校验电路用于接受烧录器写入的源数据,并根据烧录器发送的数据校验请求从集成电路内置存储器中读取目标数据,根据所述源数据对所述目标数据进行校验运算,并输出校验结果至烧录器。
优选地,所述数据校验电路包括:
数据接收模块,用于接收所述烧录器所写入的源数据;
数据读取模块,用于读取所述存储器中的目标数据;
数据校验模块,用于根据源数据,对目标数据进行异或校验运算;
校验结果输出模块,用于根据所述数据校验模块的异或校验运算情况,将相应的校验错误标志位输出至烧录器。
优选地,所述烧录器为离线烧录器或在线烧录器。
优选地,所述集成电路与所述烧录器之间的通信接口为IIC、SPI或UART中的任一种接口,或者为自定义的通信接口。
本发明提出的集成电路内置存储器的数据校验方法及装置,通过在集成电路的内部设置一数据校验电路,由该数据校验电路完成集成电路内置存储器中数据的校验运算工作,从而无需把集成电路内置存储器中的数据读出到烧录器后再与其源数据进行校验运算,从而使得本发明既保证了集成电路内置存储器中数据的正确性,又保证了集成电路内置存储器中数据的安全性。
附图说明
图1是本发明集成电路内置存储器的数据校验方法一实施例的流程示意图;
图2是本发明集成电路内置存储器的数据校验方法另一实施例的流程示意图;
图3是本发明集成电路内置存储器的数据校验方法一实施例中数据校验电路将校验结果输出至烧录器的流程示意图;
图4是本发明集成电路内置存储器的数据校验装置一实施例的电路结构示意图;
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