[发明专利]定位装置及定位方法无效
申请号: | 201110385047.0 | 申请日: | 2011-11-28 |
公开(公告)号: | CN102538780A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 三本木正雄 | 申请(专利权)人: | 卡西欧计算机株式会社 |
主分类号: | G01C21/00 | 分类号: | G01C21/00;G01S19/42 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 樊建中 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 定位 装置 方法 | ||
1.一种定位装置,其特征在于,具备:
第一定位单元,其以规定的时间间隔接收定位卫星的信号来对自己的当前位置进行定位,以获取绝对位置数据;
第二定位单元,其连续地检测自己的动作与行进方位,获取相对位置数据;
轨迹数据获取单元,其根据由所述第一定位单元获取到的绝对位置数据和由所述第二定位单元获取到的相对位置数据,来获取沿着自己的移动轨迹的一系列轨迹数据;
轨迹数据校正单元,其基于该多个绝对位置数据,对包含所述第一定位单元的规定的时间间隔的多个定位定时的定位期间所对应的所述一系列轨迹数据的一部分进行校正;
第一判断单元,其判断在第一定位期间内是否获取了多个绝对位置数据;和
第二判断单元,其判断在所述第一定位期间以外的第二定位期间内是否获取了多个绝对位置数据,
所述轨迹数据校正单元包括:
参数生成单元,其在由所述第一判断单元判断为在所述第一定位期间内并未获取多个绝对位置数据且由所述第二判断单元判断为在所述第二定位期间内已获取到多个绝对位置数据的情况下,生成基于多个绝对位置数据对所述第二定位期间内的一系列轨迹数据的一部分进行校正后的校正参数;以及
参数校正单元,其基于由所述参数生成单元所生成的所述校正参数,对所述第一定位期间内的一系列轨迹数据的一部分进行校正。
2.根据权利要求1所述的定位装置,其特征在于,
所述第一判断单元判断在所述第一定位期间的两端的定时处是否获取到绝对位置数据,
所述第二判断单元判断在所述第二定位期间的两端的定时处是否获取到绝对位置数据,
所述轨迹数据校正单元包括:
第一校正单元,其在由所述第一判断单元判断为获取了绝对位置数据的情况下,进行使所述第一定位期间内的一系列轨迹数据的一部分按照与该绝对位置数据吻合的方式同样地伸缩及旋转的相似变形处理;以及
第二校正单元,其具备所述参数生成单元以及所述参数校正单元,
在所述参数生成单元中,在由所述第一判断单元判断为并未获取到绝对位置数据且由所述第二判断单元判断为已获取到绝对位置数据的情况下,作为校正参数,生成对所述第二定位期间内的一系列轨迹数据的一部分进行基于所述第一校正单元的相似变形处理时的伸缩率及旋转角度,
在所述参数校正单元中,基于由所述参数生成单元所生成的所述校正参数,对所述第一定位期间内的一系列轨迹数据的一部分进行校正。
3.根据权利要求2所述的定位装置,其特征在于,
在由所述第一判断单元判断为在包含所述第一定位期间的两端的3个以上定时处获取了绝对位置数据的情况下,所述第一校正单元决定所述相似变形处理的伸缩率及旋转角度的任一方或双方,以缩小在所述3个以上定时处获取到的绝对位置数据和所述相似变形处理后的一系列轨迹数据之间的各个差。
4.根据权利要求3所述的定位装置,其特征在于,
所述第一校正单元按照使在所述3个以上定时处获取到的绝对位置数据和所述相似变形处理后的一系列数据之间的均方误差最小的方式,决定所述相似变形处理的伸缩率及旋转角度的任一方或双方。
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