[发明专利]抗闪烁摄录装置与摄录方法

说明书

技术领域

本发明有关于抗闪烁摄录装置以及摄录方法。

背景技术

关于照明技术，光源强度会随着电源的交流电压变化—例如，以50或者60赫兹的周期变化。

由于摄录装置通常是以「行」为单位分次感光(例如，CCD或者CMOS感光阵列技术…等)，因此，画面中不同行的背景光源强度可能会有不同。如此一来，感测到的画面会出现明暗间隔的条状现象，称为光源闪烁问题(flicker)。

发明内容

本发明揭露一种抗闪烁摄录装置与摄录方法。

根据本发明一种实施方式所实现的一种抗闪烁摄录方法包括步骤如下。所述方法根据一摄录装置所撷取的一感测画面，估算该感测画面各行的曝光积分，并将该感测画面各行的曝光积分与各行的曝光积分基准比较，以估算该感测画面各行的曝光积分偏移，其中，各行的上述曝光积分基准是自至少一参考画面估算而得。接着，统计至少该感测画面各行的曝光积分偏移的正负变化，根据统计结果判断是否存在光源闪烁问题，并根据判断结果设定该摄录装置的一自动曝光模块。

根据本发明一种实施方式所实现的一种抗闪烁摄录装置包括一影像感测器、一影像信号处理器、一闪烁侦测器以及一自动曝光模块。该影像信号处理器耦接该影像感测器。该闪烁侦测器负责根据该影像信号处理器提供的画面数据判断该影像感测器所感测的画面是否有光源闪烁问题。该自动曝光模块负责在该闪烁侦测器判定有光源闪烁问题时，控制该影像感测器或者/以及该影像信号处理器补偿光源闪烁现象。

在一种实施方式中，上述闪烁侦测器包括一行曝光积分估算模块、一存储单元、一偏移量估算模块以及一偏移量统计与判断模块。该行曝光积分估算模块负责估算该影像感测器所感测的画面各行的曝光积分。该存储单元用于存储自至少一参考画面估算而得的各行的曝光积分基准。该偏移量估算模块耦接该行曝光积分估算模块并且存取该存储单元，用于将该影像感测器所感测的画面各行的曝光积分与各行的曝光积分基准比较，以估算该影像感测器所感测的画面各行的曝光积分偏移。该偏移量统计与判断模块负责统计该影像感测器所感测的至少一画面的各行曝光积分偏移的正负变化，并根据统计结果判断是否存在光源闪烁问题。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1以方块图图解根据本发明一种实施方式所实现的一抗闪烁摄录装置100；

图2以方块图图解该闪烁侦测器106的一种实施方式；

图3示意一画面各行的曝光积分；

图4示意该偏移量估算模块206所作运算；

图5定义方块218的统计与判断操作所划分的多个观察区块；

图6A-6B以流程图说明方块218的统计与判断操作；

图7以图解方式说明多画面统计与判断操作(方块220)的概念；以及

图8A-8B以流程图说明方块220的统计与判断操作。

主要元件符号说明：

100～抗闪烁摄录装置；

102～影像感测器；

104～影像信号处理器；

106～闪烁侦测器；

108～自动曝光模块；

202～行曝光积分估算模块；

204～存储单元；

206～偏移量估算模块；

208～偏移量统计与判断模块；

210～数据累加与平均模块；

212、214、以及216～当前画面各行的曝光积分数据、先前多个画面累加与平均的曝光积分数据、以及两者再作累加与平均运算的结果；

218～单一画面统计与判断；

220～多画面统计与判断；

402～波形，图解存储单元204所存储的各行的曝光积分基准；

404～波形，图解感测画面各行的曝光积分；

406～波形，图解感测画面各行的曝光积分偏移；

502～波形，图解感测画面各行的曝光积分偏移；

504～波形，图解对应一周期长度W的弦波；

Q11、Q12、Q13…～第一象限对应行Q1所包括的多组连续行；

Q21、Q22…～第二象限对应行Q2所包括的多组连续行；

Q31、Q32…～第三象限对应行Q3所包括的多组连续行；

Q41、Q42…～第四象限对应行Q4所包括的多组连续行；

S602…S620～步骤，C1为其中一接续点；