[发明专利]触摸面板

权利要求书

1.一种静电电容方式的触摸面板，其特征在于，包括：

多个扫描电极，设置在第1方向上；

多个检测电极，设置在与所述第1方向交叉的第2方向上；

扫描电路部，将对所述多个扫描电极中的一个扫描电极输入驱动电压的一个检测期间分割为n个子检测期间，并在1～n的各个子检测期间按顺序对所述一个扫描电极输入驱动电压，其中，n≥2；

电容检测电路部，将所述多个检测电极分割为1～n的组，使得在1～n的组中相邻的组至少包含1条相同的检测电极，并在所述子检测期间中输入来自与所述子检测期间对应的所述组内的各个检测电极的信号，并检测各个检测电极的电容检测信号；以及

控制电路部，根据由所述电容检测电路部检测出的所述电容检测信号来计算电容检测信号变化量，并基于该计算出的所述电容检测信号变化量，计算触摸位置的坐标，

所述控制电路部基于在所述连续的子检测期间从所述至少1条相同的检测电极连续检测出的所述电容检测信号，决定在所述连续的子检测期间检测出所述电容检测信号的两个组内的各个检测电极的所述电容检测信号变化量。

2.如权利要求1所述的触摸面板，其特征在于，

在将所述连续的子检测期间设为第k个子检测期间和第(k+1)个子检测期间时，其中，k为1≤k≤n-1，

所述扫描电路部按照所述各个扫描电极的每一个，在所述第k个子检测期间和所述第(k+1)个子检测期间，对该扫描电极输入驱动电压，

所述电容检测电路部在所述第k个子检测期间输入来自所述第k个组内的各个检测电极的信号，检测所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，并且在所述第(k+1)个子检测期间输入来自所述第(k+1)个组内的各个检测电极的信号，检测所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，

所述控制电路部包括：

第k个公共噪声量计算部件，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述第k个组的公共噪声量；

第k个噪声去除部件，使用通过所述第k个公共噪声量计算部件根据由所述电容检测电路部检测出的所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号而计算出的所述第k个组的公共噪声量，计算所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号；

第k个变化量计算部件，根据由所述第k个噪声去除部件计算出的所述第k个组内的各个检测电极的所述噪声去除后的电容检测信号，计算所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量；

第(k+1)个公共噪声量计算部件，根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号，计算所述第(k+1)个组的公共噪声量；

第(k+1)个噪声去除部件，使用通过所述第(k+1)个公共噪声量计算部件根据由所述电容检测电路部检测出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号而计算出的所述第(k+1)个组的公共噪声量，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号；

第(k+1)个变化量计算部件，根据由所述第(k+1)个噪声去除部件计算出的所述第(k+1)个组内的各个检测电极的所述噪声去除后的电容检测信号，计算所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量；以及

变化量决定部件，比较由所述第k个变化量计算部件计算出的所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量和由所述第(k+1)个变化量计算部件计算出的所述至少1条相同的检测电极的电容检测信号变化量，并基于该比较结果而决定所述第k个以及第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量。

3.如权利要求2所述的触摸面板，其特征在于，

所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量是以没有触碰所述触摸面板时的、所述第k个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号为基准值而计算，

所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号变化量是以没有触碰所述触摸面板时的、所述第(k+1)个组内的各个检测电极的噪声去除后的电容检测信号为基准值而计算。

4.如权利要求2所述的触摸面板，其特征在于，

所述第k个组的公共噪声量是所述第k个组内的各个检测电极的电容检测信号的最小值或平均值，或者中间值，

所述第(k+1)个组的公共噪声量是所述第(k+1)个组内的各个检测电极的电容检测信号的最小值或平均值，或者中间值。