[发明专利]触摸面板有效
申请号: | 201110393600.5 | 申请日: | 2011-12-01 |
公开(公告)号: | CN102486708A | 公开(公告)日: | 2012-06-06 |
发明(设计)人: | 万场则夫;土井宏治 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立显示器 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 胡金珑 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触摸 面板 | ||
技术领域
本发明涉及触摸面板,尤其涉及减少噪声从而能够高精度地检测触碰位置的触摸面板。
背景技术
作为能够进行多点检测的触摸面板,通过排列有多个的检测电极和在与检测电极交叉的方向上排列有多个的扫描电极来检测该交叉部分附近的静电电容的共有(Mutual)方式的静电电容耦合型触摸面板得到普及(参照下面记载的日本特开2005-140612号公报)。
近年来,装载触摸面板的设备为了提高设计性而趋于薄型化,因此触摸面板的检测电极和作为噪声源的显示器的距离变近,容易受到噪声的影响。
近年来,为了实现进一步的薄型化,正在开发在液晶显示器的滤色器基板上形成触摸面板的电极的外挂(on cell)型触摸面板。这时,检测电极和显示器的距离变近,并且无法设置用于减少来自显示器的噪声的屏蔽电极(在检测电极和显示器之间设置),因此噪声增加。
如共有方式那样检测扫描电极和检测电极的交叉部分附近的静电电容的静电电容检测中,提出了很多用于去除该噪声的方法。例如有以下方法,在检测电极附近从噪声源受到相同程度的影响的地方设置参考电极,基于由参考电极检测出的噪声,从各个检测电极检测出的结果中去除噪声。此外,在不设置参考电极时,提出了根据同时检测的多个电极而计算公共噪声量,并根据该公共噪声量从各个检测电极检测出的结果中去除噪声的方式。
在前述的噪声减少方法中,设置参考电极的方法需要将参考电极设置在显示器的有效显示区域中,因此存在实际的触摸面板操作区域变小的问题。此外,在参考电极的情况下,需要设为即使手指等触碰到参考电极上也不反应而始终只检测噪声的结构,因此必须重新变更触摸面板的结构。
另一方面,在选择一条扫描电极进行驱动,并根据与该扫描电极交叉的多个检测电极的检测结果来计算公共噪声量从而去除噪声的方式中,对多个检测电极通过同时接触等而输入信号时,会把信号变化作为噪声来消除,因此存在无法高精度地检测触摸位置的课题。
此外,在与显示器一体化的情况下,对检测电极产生影响的噪声的强度分布根据显示图案或显示器的结构(驱动电路的配置、驱动方式等)而不同,因此噪声去除处理的效率降低,担心无法高精度地进行检测。
发明内容
本发明为了解决上述以往技术的问题而完成,本发明的目的在于提供一种在触摸面板中能够有效地去除噪声的技术。
本发明的所述以及其他的目的和新的特征会通过本说明书的叙述以及附图而变得清楚。
简单说明在本申请公开的发明中代表性的发明的概要如下。(1)包括:多个扫描电极,设置在第1方向上;多个检测电极,设置在与所述第1方向交叉的第2方向上;扫描电路部,将对所述多个扫描电极中的一个扫描电极输入驱动电压的一个检测期间分割为n个子检测期间,并在1~n的各个子检测期间顺序对所述一个扫描电极输入驱动电压,其中,n≥2;电容检测电路部,将所述多个检测电极分割为1~n的组,使得在1~n的组中相邻的组至少包含1条相同的检测电极,并在所述子检测期间中输入来自与所述子检测期间对应的所述组内的各个检测电极的信号,并检测各个检测电极的电容检测信号;以及控制电路部,根据由所述电容检测电路部检测出的所述电容检测信号来计算电容检测信号变化量,并基于该计算出的所述电容检测信号变化量,计算触摸位置的坐标,所述控制电路部基于在所述连续的子检测期间从所述至少1条相同的检测电极连续检测出的所述电容检测信号,决定在所述连续的子检测期间检测出所述电容检测信号的两个组内的各个检测电极的所述电容检测信号变化量。
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