[发明专利]厚度测量系统

权利要求书

1.一种厚度测量系统，其包括处理器和两个间隔设置的第一测距传感器和第二测距传感器，该厚度测量系统用于测量放置在传送带上经过所述第一测距传感器和第二测距传感器之间的平板零件的厚度，其特征在于：所述处理器用于控制所述第一测距传感器和第二测距传感器分别发射沿着平行于传送带方向的第一信号，所述第一信号经该平板零件的两侧反射后返回该第一测距传感器和第二测距传感器，该第一测距传感器和第二测距传感器根据上述返回的信号计算出第一距离和第二距离，所述处理器还用于控制该第二测距传感器发射与所述第一信号的发射方向成预定角度的第二信号，所述第二信号经该平板的反射后回到第二测距传感器，所述第二测距传感器根据所述反射会的信号计算出第三距离，所述处理器根据上述第一距离、第二距离、第三距离以及所述预定角度计算出该平板零件的厚度。

2.如权利要求1所述的厚度测量系统，其特征在于，所述第一测距传感器和第二测距传感器为激光测距传感器。

3.如权利要求1所述的厚度测量系统，其特征在于，还包括零件侦测传感器，所述零件侦测传感器用于侦测进入第一测距传感器和第二测距传感器之间的平板零件并且发送信号至该处理器，所述处理器响应零件侦测传感器的信号控制所述第一测距传感器和第二测距传感器发射所述第一信号和第二信号。

4.如权利要求3所述的厚度测量系统，其特征在于，所述零件侦测传感器包括光发射器和光接收器，光发射器和光接收器分别位于第一测距传感器和第二测距传感器的附近，当平板零件进入第一测距传感器和第二测距传感器之间时，该光发射器发射的光信号被截断，该光接收器则像该处理器发送信号。