[发明专利]厚度测量系统无效

专利信息
申请号: 201110400621.5 申请日: 2011-12-06
公开(公告)号: CN103148789A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 杨鑫 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 厚度 测量 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种厚度测量系统。

背景技术

对于一些精密的零件,如用于汽车发动机中的一些零件,其设计精度很高,这就要求检测系统能够检测其是否达到了设计精度。

发明内容

有鉴于此,本发明提供一种厚度测量系统,其能够精确的测量板状零件的厚度。

一种厚度测量系统,其包括处理器和两个间隔设置的第一测距传感器和第二测距传感器,该厚度测量系统用于测量放置在传送带上经过所述第一测距传感器和第二测距传感器之间的平板零件的厚度,所述处理器用于控制所述第一测距传感器和第二测距传感器分别发射沿着平行于传送带方向的第一信号,所述第一信号经该平板零件的两侧反射后返回该第一测距传感器和第二测距传感器,该第一测距传感器和第二测距传感器根据上述返回的信号计算出第一距离和第二距离,所述处理器还用于控制该第二测距传感器发射与所述第一信号的发射方向成预定角度的第二信号,所述第二信号经该平板的反射后回到第二测距传感器,所述第二测距传感器根据所述反射会的信号计算出第三距离,所述处理器根据上述第一距离、第二距离、第三距离以及所述预定角度计算出该平板零件的厚度。

本发明的厚度测量系统能够消除平板零件与传送带不垂直时的误差,提高了测量精度。

附图说明

图1为本发明的厚度测量系统的硬件架构图。

图2为图1中的厚度测量系统的测量原理示意图。

主要元件符号说明

厚度测量系统100平板零件200侧面210、220传送带300处理器10第一测距传感器20第二测距传感器30光发射器40光接收器50

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

参阅图1和图2,本发明的厚度测量系统100用于测量平板零件200的厚度。该厚度测量系统100包括处理器10、第一测距传感器20、第二测距传感器30以及由光发射器40和光接收器50构成的零件侦测单元。该平板零件200具有相互平行的侧面210和220。在批量检测时,该平板零件200定位在传送带300上依次经过位于传送带300两侧的第一测距传感器20和第二测距传感器30。在本实施方式中,该第一测距传感器20和第二测距传感器30正对。

第一测距传感器20和第二测距传感器30为业界应用广泛的激光测距传感器。当然,在需要时,也可考虑红外测距传感器、超声波测距传感器等。光发射器40和光接收器50分别位于第一测距传感器20和第二测距传感器30的附近,光发射器40发射的光能够被光接收器50接收到,当平板零件200开始进入该第一测距传感器20和第二测距传感器30之间时,该光发射器40发射的光被该平板零件200阻隔,该光接收器50暂时无法接收到光发射器40发射的光,该光接收器50从而向处理器10发送信号,即光接收器50的输出由高电平变为低电平。

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