[发明专利]基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法有效
| 申请号： | 201110401623.6 | 申请日： | 2011-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN103149230A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 李兆廷;王俊明;杨忠杰;付冬伟;刘文渊;闫雪峰;韦泽光 | 申请（专利权）人： | 郑州旭飞光电科技有限公司;东旭集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 郑州中原专利事务所有限公司 41109 | 代理人： | 张春 |
| 地址： | 450016 河南省郑*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 射线 荧光 直接 测定 平板玻璃 化学 组分 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法，测定步骤包括：（1）平板玻璃基板化学组分的X射线荧光熔融法制样测定；（2）利用步骤（1）中测定的组分含量的平板玻璃基板建立相应组分的X射线荧光平板法测定的校准曲线；（3）利用步骤（2）建立的玻璃平板测定校准曲线对组分相似或相近的平板玻璃基板试样直接进行组分测定。
2.如权利要求1所述的基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法，其特征在于：步骤（1）中熔融法制样测定包含: a、玻璃基板样品的破碎、研磨成粉体；b、研磨所得玻璃粉体与无水四硼酸锂或偏硼酸里以1:10的比例混合均匀；c、将混合后的粉料置入铂坩埚内，滴加浓度为0.03-0.04g/ml的NH4I或NH4Br 3-5滴，然后在1120-1140℃熔融10min之后得到熔融法测定所需样片；d、利用X射线荧光光谱仪对熔融法所得样片进行测定得到化学组分及含量信息。
3.如权利要求1所述的基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法，其特征在于：在步骤（2）中利用步骤（1）中测得的玻璃基板化学组分含量信息或已知化学组分含量信息的平板玻璃基板，建立相对于同样化学组分含量平板玻璃基板的直接测定校准曲线。
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