[发明专利]电液加热系统的故障检测和处理的综合方法有效
申请号: | 201110419214.9 | 申请日: | 2011-10-28 |
公开(公告)号: | CN102555727A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | M·R·维利;C·J·邦焦尔诺;D·A·博登米勒;C·阿蒂耶;A·C·奥斯蒙 | 申请(专利权)人: | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 |
主分类号: | B60H1/00 | 分类号: | B60H1/00;G01K7/22;B60R16/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 原绍辉;谭祐祥 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 加热 系统 故障 检测 处理 综合 方法 | ||
相关申请的交叉引用
本专利申请要求2010年10月29日提交的美国临时专利申请系列No.61/408,446的优先权,其通过参考全部并入本文。
技术领域
示范性实施例涉及电加热系统,更具体的,涉及加热系统中的故障检测和处理。
背景技术
加热系统用于车辆中以为驾驶员和乘客提供舒适感,以及用于车辆的功能方面。尽管加热系统通常按照设计运转,但是由于多种原因加热系统会具有以规定之外的状态运转的风险。
发明内容
根据示范性实施例,提供了用于车辆的加热系统和用于加热系统的方法。加热控制模块包括配置用于加热故障检测和加热故障处理的微处理器,可操作地连接至微处理器的第一场效应晶体管(FET),和可操作地连接至微处理器的第二场效应晶体管(FET)。加热模块包括加热元件,可操作地连接至微处理器的第一热敏电阻,和可操作地连接至微处理器的第二热敏电阻。微处理器配置成当第一热敏电阻的第一温度和第二热敏电阻的第二温度之间的温差超过温差阈值时确定故障状态,以及当在第一FET通电且第二FET通电后第一热敏电阻的第一温度和/或第二热敏电阻的第二温度中的至少一个低于最小温度时确定故障状态,以及当在第一FET通电和/或第二FET通电后第一热敏电阻的第一温度和/或第二热敏电阻的第二温度中的至少一个高于最大温度时确定故障状态。微处理器配置用于当第一FET通电且第二FET断电且当微处理器未检测到模拟输入处的逻辑电压时确定故障状态,以及当第一FET断电和第二FET断电且当微处理器未检测到模拟输入处的半逻辑电压时确定故障状态。
本申请还提供了以下方案:
方案1.用于车辆的加热系统,所述系统包括:
加热控制模块,其包括配置用于加热故障检测和加热故障处理的微处理器,可操作地连接至微处理器的第一场效应晶体管(FET),和可操作地连接至微处理器的第二场效应晶体管(FET);和
加热模块,其包括加热元件,可操作地连接至微处理器的第一热敏电阻,和可操作地连接至微处理器的第二热敏电阻;
其中微处理器配置为:
当第一热敏电阻的第一温度和第二热敏电阻的第二温度之间的温差超过温差阈值时确定故障状态;
当第一FET通电和第二FET通电后第一热敏电阻的第一温度和第二热敏电阻的第二温度中的至少一个低于最小温度时确定故障状态;
当第一FET通电且第二FET断电且当微处理器未检测到模拟输入处的逻辑电压时确定故障状态;以及
当第一FET断电和第二FET断电且当微处理器未检测到模拟输入处的一半逻辑电压时确定故障状态。
方案2.如方案1的加热系统,其中所述微处理器配置为:
当第一热敏电阻的第一温度和第二热敏电阻的第二温度中的至少一个超过温度规定时确定故障状态;
当第一FET断电且第二FET通电且当微处理器在模拟输入处未检测到0伏时确定故障状态;以及
当第一FET通电和第二FET通电且当微处理器在模拟输入处未检测到一半逻辑电压时确定故障状态。
方案3.如方案1的加热系统,其中微处理器配置为:
当来自第一FET的电流不等于来自第二FET的电流时确定故障状态;
当来自第一FET的电流超过电流阈值时确定故障状态;以及
当来自第二FET的电流超过电流阈值时确定故障状态。
方案4.如方案1的加热系统,其中第一FET的源通过继电器可操作地连接至蓄电池;且
其中第一FET的漏极可操作地连接至加热元件。
方案5.如方案1的加热系统,其中第二FET的源可操作地连接至加热元件;且
其中第二FET的漏极可操作地接地。
方案6.如方案1的加热系统,其中第一FET的栅极可操作地连接至微处理器且第二FET的栅极可操作地连接至微处理器。
方案7.如方案1的加热系统,其中微处理器配置为通过监测以下至少一个来检测故障状态:模拟输入,第一FET,第二FET,第一热敏电阻,和第二热敏电阻。
方案8.如方案1的加热系统,其中加热控制模块的顶部和加热模块的顶部成至少15度的角。
方案9.如方案1的加热系统,其中微处理器配置为确定加热系统的正常运行:
当第一FET通电且第二FET断电且当微处理器检测到模拟输入处的逻辑电压时;以及
当第一FET断电和第二FET断电且当微处理器检测到模拟输入处的一半逻辑电压时。
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