[发明专利]一种含氮的锗碳合金膜材料及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110433092.9 申请日: 2011-12-21
公开(公告)号: CN102400026A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 胡超权;郑伟涛;孟芳芳 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: C22C28/00 分类号: C22C28/00;C23C14/35;C23C14/14
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 王恩远
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 合金 材料 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种含氮的锗碳合金膜材料,由锗、碳和氮构成,按各成分的原子数浓度计,锗含量为81%,碳含量为11~9%,氮含量为8~10%。

2.一种权利要求1的含氮的锗碳合金膜材料的制备方法,采用射频磁控溅射法在热压ZnS或单晶Si衬底上制备含氮的锗碳合金膜,射频电源频率为13.56MHz,以单晶锗作为靶,靶与衬底的距离为7.5~8.5cm,以N2、CH4和Ar作为放电气体,N2流量为15~18SCCM,Ar流量为41.6~38.3SCCM,CH4流量为5.2~4.8SCCM;具体过程如下:将沉积系统真空反应室抽真空至2×10-3Pa以下,用Ar对Ge靶预溅射5~15分钟,除去靶材上残存的污染物;三种放电气体分别经质量流量计,混合进入真空反应室,再控制真空反应室压强在0.7~1.0Pa,衬底温度为180~220℃,射频功率于100~200W。

3.如权利要求2所述的含氮的锗碳合金膜材料的制备方法,其特征是,调节靶与衬底的距离为8cm,衬底温度为200℃,射频功率为150W,在氮气流量为15~18SCCM情况下,保持Ar和CH4流量比值为8。

4.如权利要求2或3所述的含氮的锗碳合金膜材料的制备方法,其特征是,所述的放电气体,N2、CH4和Ar的纯度在99.99%或更高。

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