[发明专利]一种含氮的锗碳合金膜材料及其制备方法无效
申请号: | 201110433092.9 | 申请日: | 2011-12-21 |
公开(公告)号: | CN102400026A | 公开(公告)日: | 2012-04-04 |
发明(设计)人: | 胡超权;郑伟涛;孟芳芳 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | C22C28/00 | 分类号: | C22C28/00;C23C14/35;C23C14/14 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 王恩远 |
地址: | 130012 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 合金 材料 及其 制备 方法 | ||
1.一种含氮的锗碳合金膜材料,由锗、碳和氮构成,按各成分的原子数浓度计,锗含量为81%,碳含量为11~9%,氮含量为8~10%。
2.一种权利要求1的含氮的锗碳合金膜材料的制备方法,采用射频磁控溅射法在热压ZnS或单晶Si衬底上制备含氮的锗碳合金膜,射频电源频率为13.56MHz,以单晶锗作为靶,靶与衬底的距离为7.5~8.5cm,以N2、CH4和Ar作为放电气体,N2流量为15~18SCCM,Ar流量为41.6~38.3SCCM,CH4流量为5.2~4.8SCCM;具体过程如下:将沉积系统真空反应室抽真空至2×10-3Pa以下,用Ar对Ge靶预溅射5~15分钟,除去靶材上残存的污染物;三种放电气体分别经质量流量计,混合进入真空反应室,再控制真空反应室压强在0.7~1.0Pa,衬底温度为180~220℃,射频功率于100~200W。
3.如权利要求2所述的含氮的锗碳合金膜材料的制备方法,其特征是,调节靶与衬底的距离为8cm,衬底温度为200℃,射频功率为150W,在氮气流量为15~18SCCM情况下,保持Ar和CH4流量比值为8。
4.如权利要求2或3所述的含氮的锗碳合金膜材料的制备方法,其特征是,所述的放电气体,N2、CH4和Ar的纯度在99.99%或更高。
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