[发明专利]与非闪存中的退化的早期检测

权利要求书

1.一种NAND闪存设备，包括：

一组存储器单元；

一组测量单元，每个测量单元连接到该组存储器单元中的一个存储器单元，每个测量单元产生测量信号，该测量信号是在读取操作中存储器单元的阈值电压的测量值；和

离散度分析器，接收测量信号并确定该组存储器单元的测量信号的当前离散度值，并且产生输出信号，该输出信号指示当前离散度值与基准离散度值的差大于阈值量。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，每个测量信号从存储器单元的用于读取操作的完成时间推导出。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，每个测量信号是模拟电压。

4.根据权利要求3所述的设备，其中，该离散度分析器进一步包括：

最大值检测器，输出第一电压，该第一电压对应于来自该组测量单元的测量信号中的最大电压；

最小值检测器，输出第二电压，该第二电压对应于来自该组测量单元的测量信号中的最小电压；和

用于确定最大电压和最小电压之间的增量作为当前离散度值的装置。

5.根据权利要求2所述的设备，其中，每个测量信号是通过在读取操作期间以所选的电流对电容器充电而获得的模拟电压。

6.根据权利要求1所述的设备，其中，该基准离散度值是通过记录由离散度分析器在所选的先前时间所确定的当前离散度值而建立的。

7.根据权利要求1所述的设备，进一步包括用于响应于离散度分析器的输出信号而将在该组存储器单元上记录的数据移动到第二组存储器单元的装置。

8.根据权利要求1所述的设备，其中，每个测量单元测量从触发读取操作中使用的感测放大器到存储器单元的完全电压发展的时间。

9.根据权利要求1所述的设备，其中，该离散度分析器在不要求附加操作的情况下对于每个读取操作产生输出信号。

10.根据权利要求1所述的设备，进一步包括用于基于测量信号与预定平均值的偏差来确定每个存储器单元的置信度水平的装置。

11.根据权利要求1所述的设备，进一步包括用于使用一个或多个存储器单元的测量信号与预定平均值的偏差来进行误差校正的装置。

12.一种操作NAND闪存设备的方法，包括：

产生一组存储器单元的一组测量值，每个测量值指示在读取操作中存储器单元之一的阈值电压；

分析该组测量值中的离散度以确定该组存储器单元的当前离散度值；并且

产生输出信号，该输出信号指示当前离散度值与基准离散度值的差大于阈值量。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，每个测量值是读取操作的完成时间。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，分析离散度进一步包括：

检测该组测量值中的最大值；

检测该组测量值中的最小值；并且

确定最大时间和最小时间之间的增量作为当前离散度值。

15.根据权利要求13所述的方法，其中，每个测量值表示为模拟电压。

16.根据权利要求15所述的方法，其中，该模拟电压是通过在读取操作期间以所选的电流对电容器充电而获得的。

17.根据权利要求12所述的方法，其中，该基准离散度值是通过在所选的先前时间记录当前离散度值而确定的。

18.根据权利要求12所述的方法，进一步包括响应于输出信号而将在该组存储器单元上记录的数据移动到第二组存储器单元，该输出信号指示当前离散度值与基准离散度值的差大于阈值量。

19.根据权利要求12所述的方法，进一步包括基于测量值与预定平均值的偏差来确定每个存储器单元的置信度水平。

20.根据权利要求12所述的方法，进一步包括使用一个或多个存储器单元的测量值与预定平均值的偏差来进行误差校正。