[发明专利]一种测试电子产品关机温度的系统和方法

权利要求书

1.一种测试电子产品关机温度的系统，包括控制器（1）、温控箱（2）、置于温控箱（2）中的被测试部件（3）、及给被测试部件（3）供电的电源（4），所述控制器（1）控制温控箱（2）的温度及电源（4）的开关；其特征在于：还包括继电器（5），所述被测试部件（3）包括用于启动该测试部件的常开触点开关，所述继电器（5）的常开触点与所述常开触点开关并联，所述继电器（5）的线圈绕组串联在电源（4）回路中，所述控制器（1）控制电源（4）给继电器（5）供电。

2.如权利要求1所述的测试电子产品关机温度的系统，其特征在于：所述被测试部件（3）包括用于给该被测试部件（3）供电的假电池，所述假电池与电源（4）连接。

3.如权利要求1所述的测试电子产品关机温度的系统，其特征在于：所述控制器（1）分别通过GPIB接口和RS232接口与电源（4）和温控箱（2）相连接。

4.一种测试电子产品关机温度的方法，其特征在于，包括如下步骤：

 S1、搭建测试系统；

 S2、由控制器（1）控制温控箱（2）的初始温度，并控制电源（4）给被测试部件（3）供电；

 S3、监控被测试部件（3）的运行情况； 

S4、若步骤S3监控的被测试部件（3）正常运行，则由控制器（1）升高温控箱（2）的温度；

S5、监控被测试部件（3）的运行情况；

S6、若步骤S5监控的被测试部件（3）正常运行，则返回步骤S4； 

S7、若步骤S5监控的被测试部件（3）关机，则记录此时温度； 

S8、若步骤S3监控的被测试部件（3）关机，则由控制器（1）控制电源（4）给继电器（5）供电，继电器（5）得电导通，启动被测试部件（3）； 

S9、监控被测试部件（3）的运行情况； 

S10、若步骤S9监控的被测试部件（3）正常运行，则返回步骤S4； S11、若步骤S9监控的被测试部件（3）关机，则由控制器（1）降低温控箱（2）的温度，并返回步骤S8。

5.如权利要求1所述的测试电子产品关机温度的方法，其特征在于：步骤S2中温控箱（2）的初始温度为50-70°C。

6.如权利要求1所述的测试电子产品关机温度的系统，其特征在于：步骤S7中还包括对被测试部件（3）通过继电器（5）进行复检。

7.如权利要求6所述的测试电子产品关机温度的系统，其特征在于：所述复检包括以下步骤： 

S7-1、通过继电器（5）启动被测试部件（3）； 

S7-2、监控被测试部件（3）的运行情况； 

S7-3、若步骤S7-2监控的被测试部件（3）正常运行，则返回步骤S4； 

S7-4、若步骤S7-2监控的被测试部件（3）关机，则记录此时温度。