[发明专利]一种测试电子产品关机温度的系统和方法

说明书

技术领域

本发明属于电子产品测试领域，尤其涉及一种测试电子产品关机温度的系统和方法。

背景技术

电子产品在长时间连续使用后会产生大量热量，导致工作温度升高，当工作温度超出电子产品能够承受的范围，不仅电子产品出现部件损坏，导致其使用寿命受到严重影响；而且过高的温度也会危害到使用者。因此，有必要采取一定的措施保证电子产品在设定的温度范围内工作，如强制关机或降温等。而测试出电子产品安全工作的温度范围则是电子产品制造商保障电子产品安全工作的关键。

通常的做法是将电子产品置于温箱中，通过逐渐升高温箱内的温度，测试并记录电子产品自动关机时的温度，该温度即为电子产品工作温度的上限，等于或超过该温度，电子产品就很可能出现损坏。因此制造商在采取保障措施以保证电子产品安全工作时，就有了可靠的参照依据，以该温度为参照，使得电子产品在低于该温度的温度范围内工作，而当工作温度接近该温度时，立即采取措施强制关机或降低温度，以保护电子产品和使用者的安全。

然而按照现有的这种测试电子产品关机温度的系统和方法，将电子产品放入温箱，并将温箱内的温度调整到一定值，电子产品由于受到外部温差的影响导致其不正常关机，即这种不正常关机是由测试系统所致而非电子产品在高温下产生的自动关机，因此测试人员会误认为此时的温度为电子产品关机温度，然而事实上却是，电子产品可能只是无法适应骤然变高的温度，此时的温度还不是所需的电子产品关机温度，这样导致测试的结果不精确。

发明内容

本发明为解决电子产品关机温度的测试结果不精确的技术问题，提供一种测试电子产品关机温度的系统和方法，该系统和方法能提供精确的测试结果。

为达到上述目的，本发明提供一种测试电子产品关机温度的系统，包括控制器、温控箱、置于温控箱中的被测试部件、及给被测试部件供电的电源，所述控制器控制温控箱的温度及电源的开关；还包括继电器，所述被测试部件包括用于启动该测试部件的常开触点开关，所述继电器的常开触点与所述常开触点开关并联，所述继电器的线圈绕组串联在电源回路中，所述控制器控制电源给继电器供电。

优选地，所述被测试部件包括用于给该被测试部件供电的假电池，所述假电池与电源连接。

优选地，所述控制器分别通过GPIB接口和RS232接口与电源和温控箱相连接。

一种测试电子产品关机温度的方法，包括如下步骤： S1、搭建测试系统； S2、由控制器控制温控箱的初始温度，并控制电源给被测试部件供电； S3、监控被测试部件的运行情况； S4、若步骤S3监控的被测试部件正常运行，则由控制器升高温控箱的温度； S5、监控被测试部件的运行情况； S6、若步骤S5监控的被测试部件正常运行，则返回步骤S4； S7、若步骤S5监控的被测试部件关机，则记录此时温度； S8、若步骤S3监控的被测试部件关机，则由控制器控制电源给继电器供电，继电器得电导通，启动被测试部件； S9、监控被测试部件的运行情况； S10、若步骤S9监控的被测试部件正常运行，则返回步骤S4； S11、若步骤S9监控的被测试部件关机，则由控制器降低温控箱的温度，并返回步骤S8。

优选地，步骤S2中温控箱的初始温度为50-70°C。

优选地，步骤S7中还包括对被测试部件通过继电器进行复检。

优选地，所述复检包括以下步骤： S7-1、通过继电器启动被测试部件； S7-2、监控被测试部件的运行情况； S7-3、若步骤S7-2监控的被测试部件正常运行，则返回步骤S4； S7-4、若步骤S7-2监控的被测试部件关机，则记录此时温度。

本发明的有益效果是：本发明通过继电器的导通来开启被测试部件，从而可以在被测试部件由于受温差影响导致其不正常关机时，可以重启被测试部件并监控其运行情况，以此来确定测试结果是否精确。

附图说明

图1是本发明提供的测试电子产品关机温度的系统示意图。

图2是本发明提供的测试电子产品关机温度的方法流程图。

图中标记：

1-  控制器、

2-  温控箱、

3-  被测试部件、

4-  电源、

5-  继电器、

6-  GPIB接口、

7-  RS-232串口。

具体实施方式