[发明专利]超低压CMOS图像传感器像素单元及电压输入输出方法有效
申请号: | 201110441861.X | 申请日: | 2011-12-26 |
公开(公告)号: | CN102572322A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 何进;苏艳梅;杜彩霞 | 申请(专利权)人: | 深港产学研基地 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H01L27/146 |
代理公司: | 深圳市惠邦知识产权代理事务所 44271 | 代理人: | 满群 |
地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 低压 cmos 图像传感器 像素 单元 电压 输入输出 方法 | ||
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域,具体涉及一种超低压双互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器像素单元及电压输入输出方法。
背景技术
CMOS图像传感器(CIS)不仅在多数电子产品,如个人电脑、移动电话、掌上电脑等有着广泛的应用,CMOS有源像素单元(APS)也基于自身低成本、低功耗、高集成能力的优势,逐步替代了电荷耦合器件(CCD)。CIS的特性主要由分辨率、填充系数、暗电流、时间噪声、固定图形噪声、灵敏度、响应率、量子效率、动态范围和信噪比决定的。近年,为了制造适应于移动电子器件,如手机、掌上电脑等要求最小功耗的APS器件,展开了减小所需的供应电压值,并延长电池寿命。但是,传统3T-APS结构像素单元,等效电路结构如图1中虚线框内所示,包括重置晶体管M1、光电二极管D1及它们中间接点N1与输出端之间的射极互连的源NMOS跟随晶体管M2和PMOS管M3,M1集电极电连接重置信号Φ1,M2基极电连接N1,M2集电极电连接偏置电压Vdd,M3基极电连接选择信号Rs,该像素单元输出端还电连接接地的饱和NMOS管M7。为了得到最大的信号噪声比和像素动态范围,针对传统3T-APS结构如图2所示,信号必须尽可能大,如果供应电压小于1V,将会影响信号噪声比和像素单元的动态范围,因为允许的输入信号电压减小,低电流将造成较大的噪声电压。所以,信号必须有带有轨至轨信号输入级和轨至轨的信号输出级结构。本发明的目的是如何提高像素单元输出电压的动态范围,从而降低输入电压大小,从而能节省设备功耗。
发明内容
本发明需要解决的技术问题是,如何提供一种超低压CMOS图像传感器像素单元及电压输入输出方法,相较传统3T-APS结构能大大提高输出电压动态范围,从而降低输入电压、节省功耗。
本发明的第一个技术问题这样解决:构建一种超低压CMOS图像传感器像素单元,包括重置晶体管、光电二极管及它们中间接点与第一输出端之间的射极互连的源NMOS跟随晶体管和PMOS管,所述源NMOS跟随晶体管集电极电连接偏置电压,其特征在于,还包括射极互连的:
源PMOS跟随晶体管,基极电连接所述中间接点,集电极电连接地;
NMOS管,基极电连接选择信号,集电极电连接第二输出端;所述选择信号还电连接所述PMOS管的基极。
按照本发明提供的超低压CMOS图像传感器像素单元,第一输出端电连接接地的饱和NMOS管,第二输出端电连接接所述偏置电压的饱和PMOS管。
按照本发明提供的超低压CMOS图像传感器像素单元,第一输出端和第二输出端分别电连接集成放大器的各自对应输入端。
本发明的另一个技术问题这样解决:构建一种超低压CMOS图像传感器像素单元的电压输入输出方法,其特征在于,包括以下步骤:
施加VDD>VIP+VIN+2Vdsat的电源电压VDD作为所述偏置电压,VIP是所述源PMOS跟随晶体管的阈值电压,VIN是所述源NMOS跟随晶体管的阈值电压,Vdsat是经过源电流的电压;
第一输出端电压Voutn和第二输出端电压Voutp共同构成了所述像素单元的输出电压Vout,其范围是:Vdsat<Voutput<VDD-Vdsat。
按照本发明提供的所述电压输入输出方法,所述电源电压VDD是1V,所述范围的大小是0.5~0.6V。
本发明提供的超低压CMOS图像传感器像素单元及电压输入输出方法,相较于最大有效输出电压范围只有(VDD-2VT-Vdsat)、动态范围受限于重置晶体管和源随晶体管的阈值电压降、不能脱离复杂输出电路工作于低于1V电源电压状态的传统3T-APS结构单元而言,更为稳定、高效地使像素单元工作于超低电源电压状态,并扩大信号噪声比和像素动态范围。
附图说明
下面结合附图和具体实施例进一步对本发明进行详细说明:
图1为传统3T-APS结构像素单元等效电路结构示意图;
图2为图1所示传统3T-APS结构像素单元有效动态范围示意图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深港产学研基地,未经深港产学研基地许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110441861.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。