[发明专利]倍增精度测量系统无效
| 申请号： | 201110449102.8 | 申请日： | 2011-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN102538827A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 郭永伟 | 申请（专利权）人： | 大连交通大学 |
| 主分类号： | G01D1/02 | 分类号： | G01D1/02 |
| 代理公司： | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人： | 李馨 |
| 地址： | 116028 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 倍增 精度 测量 系统 | ||
1.一种倍增精度测量系统，其特征在于包括：
内存；
微处理器，用于接收和存储测量仪器输出的n个测量数据，并计算该n个测量数据的n-1次均值后，将计算结果存储到内存中，其中，n为大于1的正整数。
2.如权利要求1所述的倍增精度测量系统，其特征在于，微处理器包括：
分别接收并存储一个测量数据的n个寄存器；
信号处理器，用于计算n个寄存器存储n个测量数据的n-1次均值后，将计算结果存储到内存中。
3.如权利要求1所述的倍增精度测量系统，其特征在于，当n＝2时，微处理器1括分别存储测量数据M0和测量数据M1的两个寄存器；信号处理器计算测量数据M0和测量数据M1的一次均值M′的步骤表示为：
M′＝(M0+M1)/2＝0.5M0+0.5M1。
4.如权利要求1所述的倍增精度测量系统，其特征在于，当n＝2时，微处理器1括分别存储测量数据M0和测量数据M1的两个寄存器；信号处理器计算测量数据M0和测量数据M1的一次均值M′的步骤表示为：
M′＝ax0.5M0+bx0.5M1；
其中，a、b分别是校正系数。
5.如权利要求1所述的倍增精度测量系统，其特征在于，当n＝3时，微处理器包括存储测量数据M0、测量数据M1、测量数据M2的三个寄存器，信号处理器计算测量数据M0、测量数据M1、测量数据M2的二次均值M″的步骤表示为：
M″＝[(M0+M1)/2+(M1+M2)/2]/2＝0.25M0+0.5M1+0.25M2。
6.如权利要求1所述的倍增精度测量系统，其特征在于，当n＝3时，微处理器包括存储测量数据M0、测量数据M1、测量数据M2的三个寄存器，信号处理器计算测量数据M0、测量数据M1、测量数据M2的二次均值M″的步骤表示为：
M″＝ax0.25M0+bx0.5M1+cx0.25M2；
其中，a、b、c分别是校正系数。
7.如权利要求1所述的倍增精度测量系统，其特征在于还包括：
显示单元，用于显示微处理器计算得到的n-1次均值。
8.如权利要求1至7任一项所述的倍增精度测量系统，其特征在于，测量仪器是传感器或A/D转换器。
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