[发明专利]倍增精度测量系统

说明书

技术领域

本发明属于测量数据处理技术领域，特别是一倍增精度测量系统。

背景技术

测量仪器是指可以获取目标物某些属性值的仪器，如传感器、A/D转换器等。目前对测量仪器测量的测量精度的认识是：通过测量仪器获取的测量数据的精度小于或等于测量仪器的物理精度值，而不可能高于测量仪器的物理精度值。

这一基本认识是各类测量设备设计时的基本原则，也是选择测量仪器的基本依据。而为了获得更高的测量精度，往往需要对测量仪器做物理上的改动，操作繁琐。

发明内容

本发明针对现有测量仪器测量精度受制于物理精度值的问题，而提出了一种倍增精度测量系统。

本发明的倍增精度测量系统包括：

内存；

微处理器，用于接收和存储测量仪器输出的n个测量数据，并计算该n个

测量数据的n-1次均值后，将计算结果存储到内存中，其中，n为大于1的正整数。

本发明的倍增精度测量系统是在动态物理量的测量中，对测量仪器输出的测量数据进行均值处理，从而提高测量结果的精度，而无需对测量仪器做物理上的改动。

附图说明

图1为本发明的倍增精度测量系统的结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。

如图1所示，本发明的倍增精度测量系统包括：内存2；微处理器1，用于接收和存储测量仪器输出的n个测量数据，并计算该n个测量数据的n-1次均值后，将计算结果存储到内存2中。其中，n为大于1的正整数；测量仪器可以是传感器或A/D转换器。

其中，微处理器1进一步包括：分别接收并存储一个测量数据的n个寄存器11；信号处理器12，用于计算n个寄存器11存储n个测量数据的n-1次均值后，将计算结果存储到内存2中。

举例来说，当n＝2时，微处理器1包括寄存器A和寄存器B，分别存储测量数据M0和M1，则信号处理器12计算该两个测量数据的一次均值M′的步骤可以表示为：

M′＝(M0+M1)/2＝0.5M0+0.5M1；               (1)

当n＝3时，微处理器1包括寄存器C、寄存器D、寄存器E，分别存储测量数据M0、M1、M2，则信号处理器12计算该三个测量数据的二次均值M″的步骤可以表示为：

M″＝[(M0+M1)/2+(M1+M2)/2]/2＝0.25M0+0.5M1+0.25M2；  (2)

在实际应用中，微处理器1在计算过程中，还可以将上式中每一项乘以一预存的校正系数，例如，对于上式(1)，假设预存M0项的校正系数是a，M1项的校正系数是b，则有校正后：

M′＝ax0.5M0+bx0.5M1。

对于上式(2)，假设预存M0项的校正系数是a，M1项的校正系数是b，M1项的校正系数是c，则有校正后：

M″＝ax0.25M0+bx0.5M1+cx0.25M2。

另外，本发明的倍增精度测量系统还可以包括：显示单元3，用于显示微处理器1计算得到的n-1次均值。

本发明的倍增精度测量系统是在动态物理量的测量中，对测量仪器输出的测量数据进行均值处理，例如，对于两个测量数据，以两次采样值的算术平均值作为测量结果；对于三个或以上的测量数据，求得相邻测量数据的算术平均值，并进一步求得相邻的算术平均值的算术平均值，以此类推，则测量结果的精度将极大提高，而无需对测量仪器做物理上的改动。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。