[发明专利]带有IC器件的透明硅基基板的制作方法有效
申请号: | 201110453108.2 | 申请日: | 2011-12-30 |
公开(公告)号: | CN102543832A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 杨洪宝;余雷;洪乙又;樊卫华;铁斌;王绪丰 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人: | 徐冬涛;瞿网兰 |
地址: | 210016 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 带有 ic 器件 透明 硅基基板 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于透射式硅基薄膜晶体管的基板的制作方法,尤其是一种微显示、光电探测学、光通信、消费类电子等领域中使用的透射式硅基透明基板的制造方法。具体地说是一种带有IC器件的透明硅基基板的制作方法。
背景技术
目前,一般硅基基板是不透明的,在显示领域主要是利用其反射式的用途,比如硅基液晶LCOS(Liquid Crystal on Silicon),就是属于反射式液晶器件,具有集成度高、分辨率高、器件本身开口率高的特点,广泛应用与微显示领域。但是反射式硅基液晶在光学系统中,需要增加一个额外的偏振分光棱镜PBS器件,用于将背光源的光照射到LCOS器件表面,反射回来的光也是经过PBS器件投射到屏幕或者观察着眼睛,造成整个光路的光利用率降低,光路结构复杂,而且整个模块的体积大,不符合头盔或者近眼显示等领域要求微显示器件体积小、重量轻的特殊要求。
而透明的硅基基板可以做出透射式硅基液晶显示器,背光源直接放置于液晶器件后面,不需要额外的PBS光学器件,具有光路简单、结构紧凑、体积小、重量轻等优势,同时也具有硅基液晶集成度高、分辨率高等优势特点。
透明的硅基基板还可以广泛应用于光通信、消费类电子等领域,用于全透明的场合,不但具有电学上面的高集成度和驱动特性,还具有视觉上面的艺术审美特性。
发明内容
本发明的目的是针对现有的不透明的硅基基板需要PBS光学器件才能实现正常显示而造成整个光路的光利用率降低,光路结构复杂,而且整个模块的体积大,不符合头盔或者近眼显示等领域要求微显示器件体积小、重量轻的问题,发明一种无需PBS光学器件即可实现成像的带有IC器件的透明硅基基板的制作方法。
本发明的技术方案是:
一种带有IC器件的透明硅基基板的制作方法,其特征是它包括以下步骤:
1)选择绝缘硅片(SOI,SILICON ON INSULATOR)作为IC器件制作的基板,所述的绝缘硅片由衬底硅层3、二氧化硅绝缘层2和器件硅层1构成,器件硅层1位于顶层,二氧化硅绝缘层2位于衬底硅层3和器件硅层1之间;
2)在器件硅层1上制作IC器件;
3)采用高温氧化法将器件硅层1上未制作IC器件的部分进行氧化形成透明二氧化硅;
4)将IC器件上需要与外界电气连接的部分提前连接到二氧化硅绝缘层(2)的上面,以方便后续工艺将电极引出;
5)在IC器件上面做钝化层11和遮光层12,以保护IC器件在后续制作中不受损伤,以及器件在应用过程中,不受外界光的干扰,而引起器件性能的衰退和劣化;
6)将安装IC器件的器件硅层1通过光学胶与透明玻璃基板粘接;
7)先通过机械减薄再通过化学刻蚀将衬底硅层3去除掉;
8)在二氧化硅绝缘层2上打孔将电极引出,并且蒸镀透明的导电电极,光刻形成图形。
所述的二氧化硅绝缘层2的厚度为0.4~1μm,器件硅层1厚度为0.3~1.5μm。
所述的粘接是倒置式单次粘接。
所述的打孔是采用激光打孔的工艺实现硅片与外界的电气连接。
所述的IC器件包括薄膜晶体管阵列和周边驱动控制电路部分。
所述的化学刻蚀可为湿法刻蚀。
所述的湿法刻蚀是用35%的KOH饱和溶液,刻蚀温度控制在90℃左右,利用二氧化硅绝缘层作为蚀刻的阻挡层,反应自停止,刻蚀速率为3μm/min。
所述的化学刻蚀还可为等离子干法蚀刻。
所述的等离子干法蚀刻是采用ICP蚀刻机来蚀刻,并利用二氧化硅绝缘层作为硅蚀刻的阻挡层,完成衬底硅的去除。
本发明的有益效果是:
利用本发明的方法制作的透明硅基基板制作的器件,具有结构简单、可靠性高、开口率高等优点。
本发明有利于提高光利用率,减小显示器的尺寸。
利用本发明的基板制作显示器时不需要额外的PBS光学器件,具有光路简单、结构紧凑、体积小、重量轻等优势,同时也具有硅基液晶集成度高、分辨率高等优势特点。
本发明的应用范围广,它可以广泛应用于光通信、消费类电子等领域,用于全透明的场合,不但具有电学上面的高集成度和驱动特性,还具有视觉上面的艺术审美特性。
附图说明
图1是本发明采用的绝缘硅片(SOI)的剖面结构示意图。
图2是在SOI绝缘硅片上制作的薄膜晶体管CMOS开关剖面示意图。
图3是将CMOS开关的漏极电极转接到二氧化硅绝缘层上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造