[实用新型]利用辅助运放测试运放类IC参数的电路

权利要求书

1.利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，包括待测集成运放A1、辅助放大器A2、开关S1、S2、S3、S4、交流电源VI1、VI2、电阻R1、R2、R3、R4、R10、R11、RL、电容C2，其特征在于：电阻R1一端接交流电源VI1，另一端串联电阻R11和电阻R3，R11另一端接待测运放A1的反相端，电阻R2一端接交流电源VI1，另一端串联电阻R10和电阻R4，R11另一端接待测运放A1的同相端，电源VI1另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端，开关S4另一端接辅助运放的输出端，A1输出端接双路开关S4的另一支路的一端，开关S4另一接A2的反向输入端，A1输出接开关S3的一端，S3另一端串联电阻RL后接地，辅助运放A2的同相端接交流电源VI2，VI2另一端接地，开关S1、S2分别并联在电阻R11、R10两端，电阻R3两端并联补偿电容C2。

2.根据权利要求1所述的利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，其特征在于：

辅助运放A1的AO2≥80dB，VICM2应大于A1的输出电压摆幅VOM2≥10V。

3.根据权利要求1所述的利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，其特征在于：

电阻R1、R2取50Ω，电阻R3、R4取50kΩ，电阻R10、R11取10kΩ。