[实用新型]利用辅助运放测试运放类IC参数的电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及利用辅助运放测试运放类IC参数的电路。

背景技术

目前，用于测试运放类IC参数需要使用专门的测试设备，这些设备成本较高，同时电路结构复杂，当设备出现故障时，又很难维修，给测试运放类IC的工作增加了成本。

发明内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，该电路结构简单，易于实现，能够方便地测试运算放大器参数。

利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，包括待测集成运放A1、辅助放大器A2、开关S1、S2、S3、S4、交流电源VI1、VI2、电阻R1、R2、R3、R4、R10、R11、RL、电容C2，其特征在于：电阻R1一端接交流电源VI1，另一端串联电阻R11和电阻R3，R11另一端接待测运放A1的反相端，电阻R2一端接交流电源VI1，另一端串联电阻R10和电阻R4，R11另一端接待测运放A1的同相端，电源VI1另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端，开关S4另一端接辅助运放的输出端，A1输出端接双路开关S4的另一支路的一端，开关S4另一接A2的反向输入端，A1输出接开关S3的一端，S3另一端串联电阻RL后接地，辅助运放A2的同相端接交流电源VI2，VI2另一端接地，开关S1、S2分别并联在电阻R11、R10两端，电阻R3两端并联补偿电容C2。

辅助运放A1的AO2≥80dB，VICM2应大于A1的输出电压摆幅(至少大±10V)，VOM2≥10V。R1、R2取50Ω，R3、R4取50kΩ，R10、R11取10kΩ。

本实用新型电路简单、使用方便、易于实现，能够以最小的成本实现运放类IC参数的测试。

附图说明

图1是本实用新型实施例的电路图。

具体实施方式   

   利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，如图1所示，包括待测集成运放A1、辅助放大器A2、开关S1、S2、S3、S4、交流电源VI1、VI2、电阻R1、R2、R3、R4、R10、R11、RL、电容C2，其特征在于：电阻R1一端接交流电源VI1，另一端串联电阻R11和电阻R3，R11另一端接待测运放A1的反相端，电阻R2一端接交流电源VI1，另一端串联电阻R10和电阻R4，R11另一端接待测运放A1的同相端，电源VI1另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端，开关S4另一端接辅助运放的输出端，A1输出端接双路开关S4的另一支路的一端，开关S4另一接A2的反向输入端，A1输出接开关S3的一端，S3另一端串联电阻RL后接地，辅助运放A2的同相端接交流电源VI2，VI2另一端接地，开关S1、S2分别并联在电阻R11、R10两端，电阻R3两端并联补偿电容C2。

 辅助运放A1的AO2≥80dB，VICM2应大于A1的输出电压摆幅(至少大±10V)，VOM2≥10V。R1、R2取50Ω，R3、R4取50kΩ，R10、R11取10kΩ。

A1、A2接成闭环系统，为了保证闭环能稳定工作，补偿成单极点频率特性。

以下介绍一下利用该电路对运算放大器的参数进行测量。

一、输入失调电压Vosl的测量

令VI1＝VI2=0(对地短接)，闭合S1、S2、S4，打开S3，由于R1、R2很小，这时输入失调电流IOS，在R1上产生的附加失调电压很小。例如IOS1＝0.1μA则VOSR1=R1 *IOS1 =5μV 由于VOS一般为mV数量级，所以此附加失调电压可略去不计。图中A1、A2等效于一个AO＝AO1*AO2的放大器，因为VOS2的影响折算到待测放大器的输入端时要除以AO1，所以VOS2与VOS1相比也可以略去不计，此外由于AO很高，所以闭环增益表达式Af=1十(R3／R1)是足够精确的。于是有                                                ，若测得VOS2=1V，则VOS1＝1mV。

二、输入失调电流IOS1的测量

令VI1＝VI2=0闭合S1、S2、S4，打开S3，测出。然后打开S1、S2，测出VO2。此时有：

式中，将和相减，就可求得。

三、输入偏置电流I_B的测量

令VI1＝VI2=0，闭合S2、S4，打开S1、S3，测出。

然后，打开S2，闭合S1，测出，由VI-≈VI+的关系得