[实用新型]一种晶片频率腐蚀及清洗装置无效
申请号: | 201120011949.3 | 申请日: | 2011-01-17 |
公开(公告)号: | CN201990731U | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 施斌慧 | 申请(专利权)人: | 江阴市江海光伏科技有限公司 |
主分类号: | C23F1/08 | 分类号: | C23F1/08;C30B33/10 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶片 频率 腐蚀 清洗 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及腐蚀晶片技术领域,具体是一种晶片腐蚀及清洗装置。
背景技术
现有技术中用于晶片腐蚀的设备是没有自动的腐蚀、清洗装置,是依靠人工完成的。其艺方法包括如下工艺步骤:
1)腐蚀液的配置;
2)来料进行抽测几片,并记录下晶片的频率,进而计算出要腐蚀的大致时间;
3)用手拿着放好晶片的腐蚀篮放到腐蚀液中进行晃动腐蚀;
4)腐蚀到计算时间的一半时,再次计算出要腐蚀的速率以及计算腐蚀时间;
5)将腐蚀好的晶片用热水冲洗干净,倒入放有盐酸稀释液的容器中,用超声波超声30分钟;
6)晶片清洗:热水清洗三次→温水洗三次→电磁炉纯净水煮沸5分钟→酒精脱水→烘干。
人工进行腐蚀,腐蚀的效率低,一人只能操作一台,一台仅能腐蚀1篮/次;腐蚀频率管控需操作人进行人工计算腐蚀速率;腐蚀完后晶片清洗用手工进行清洗,增加人力。
实用新型内容
本实用新型提出一种晶片腐蚀及清洗装置,旨在克服现有技术所存在的上述缺陷,实现加工自动化,减少了因人为因素所造成的产品质量不稳定,从而有效地提高了生产效率,保证了产品质量的一致性。
本实用新型的技术解决方案:一种晶片频率腐蚀及清洗装置,其 特征在于,所述装置为箱体结构,在所述箱体内设有腐蚀槽与清洗槽,所述腐蚀槽位于箱体的一端,在所述腐蚀槽的一侧设有清洗槽,将所述清洗槽与所述腐蚀槽之间用A隔板隔开,在所述清洗槽的侧壁上设有至少两道B隔板插槽,通过所述B隔板至少将清洗槽分割为两个,所述至少两个清洗槽的底部相互连通;在所述清洗槽和腐蚀槽内各设有一根传动轴,在每根所述的传动轴上均装有振动架,在所述振动架上放置有晶片篮;在所述腐蚀槽的外围设置有放水隔层。
其中,所述清洗槽之间的B隔板间可互换,且B隔板的高度各不相同。
其中,在所述的腐蚀槽和清洗槽的上方设有一个共同的排风装置。
本实用新型的优点:由自动腐蚀晶片代替人工腐蚀晶片,一台机能腐蚀4次,且每人操作2台设备,是原加工产量的8倍左右;腐蚀用计算机档案代替人工进行频率管控;便于自动化,减少人为因素;腐蚀完晶片清洗用自动化装置代替人工进行清洗,腐蚀和清洗能同时进行操作代替了原来不能同时进行的工作,从而减少人力也提高了效率。
附图说明
图1是本实用新型用于晶片腐蚀及清洗装置的结构示意图。
图中:1、腐蚀槽;2、清洗槽;3、A隔板;4、B隔板;5、传动轴;6、振动架;7、晶片篮;8、放水隔层;9、抽风装置。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案,而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
如图所示,本实用新型一种晶片频率腐蚀及清洗装置,该装置为箱体结构,在所述箱体内设有腐蚀槽1与清洗槽2,所述腐蚀槽1位于 箱体的一端,在所述腐蚀槽的一侧设有三道清洗槽2,将所述清洗槽2与所述腐蚀槽1之间用A隔板3隔开,在所述清洗槽的侧壁上设有两道B隔板的插槽,用两块B隔板4将所述清洗槽2分割为三个水箱,由于B隔板4没插到箱底,所以三道清洗槽2的底部相互连通;在所述清洗槽2和腐蚀槽1内各设有一根传动轴5,在每根传动轴5上均装有振动架6,在所述振动架6放置有晶片篮7;在所述腐蚀槽1的外围设置有放水隔层8。所述清洗槽2之间的B隔板4间可互换,且B隔板4的高度各不相同。在所述的腐蚀槽1和清洗槽2的上方设有一个共同的排风装置9。
实施例1
在本实用新型中晶片频率腐蚀方法的工艺步骤:
一、腐蚀液的配置F>30MHz时氟化氢铵水溶液(电子级),分子式:NH4HF2,分子量57.04,含量33%±1%,密度为1.09~1.10g/ml;17L氟化氢铵水溶液放到腐蚀槽内,温度65+2℃;
16MHz≤F≤30MHz时氟化氢铵水溶液(电子级),分子式:NH4HF2,分子量57.04,含量33%±1%,密度为1.09~1.10g/ml;17L氟化氢铵水溶液放到腐蚀槽内,温度50+2℃;
F<8MHz时氟化氢铵固体分子式NH4HF2,分子量57.04,氟化氢铵∶水(重量比)=:2∶1,配好后的混合液17L放到腐蚀槽内,温度78±2℃;
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