[实用新型]CD芯片功能参数自动测试装置有效
| 申请号： | 201120291745.X | 申请日： | 2011-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN202182934U | 公开（公告）日： | 2012-04-04 |
| 发明（设计）人： | 章圣表;潘子升;魏建中 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人： | 张宇娟 |
| 地址： | 310012*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | cd 芯片 功能 参数 自动 测试 装置 | ||
1.CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，包括CPU处理模块(211)、初始化CD芯片模块(212)、音频参数诊断模块(213)、多路选择开关模块(214)、时钟信号输出模块(215)、USB接口数据处理模块(216)、CD伺服驱动模块(217)、SD卡接口数据处理模块(218)以及LCD显示模块(21a)；
CPU处理模块(211)分别与初始化CD芯片模块(212)、音频参数诊断模块(213)、多路选择开关模块(214)以及LCD显示模块(21a)连接；多路选择开关模块(214)分别与USB接口数据处理模块(216)、CD伺服驱动模块(217)以及SD卡接口数据处理模块(218)连接；
音频参数诊断模块(213)连接待测CD芯片的音频输出模块(224)；
多路选择开关模块(214)连接待测CD芯片的USB解码模块(225)、CD伺服解码模块(226)以及SD卡解码模块(227)；
初始化CD芯片模块(212)连接待测CD芯片的闪存存储模块(222)；
时钟信号输出模块(215)连接待测CD芯片的时钟模块(228)。
2.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括电源输出模块(219)，电源输出模块(219)给待测CD芯片的电源模块(223)供电。
3.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括工作电流测量模块(21c)，工作电流测量模块(21c)连接CPU处理模块(211)，工作电流测量模块(21c)通过串联方式与待测CD芯片(22)的电源模块连接。
4.如权利要求1所述的CD芯片功能参数自动测试装置，其特征在于，CD芯片功能参数自动测试装置还包括按键模块(21b)，按键模块(21b)连接CPU处理模块(211)。
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