[实用新型]CD芯片功能参数自动测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及CD芯片功能参数自动测试装置。

背景技术

目前的CD芯片具有直接解析存储在CD光盘、USB盘、SD卡上的文件系统，自动识别和解码CD/MP3文件并且播放。

但是CD芯片功能参数测试方法还是手工分步测试，如先测试CD播放功能，再测试内核电源的工作电流，其中测试内核电源的工作电流需要依靠外部搭线方式，需要较多人员花费较长时间去全面测试CD芯片的性能以及参数指标，导致效率低，耗时长。

实用新型内容

针对现有技术中存在的上述问题，本实用新型提供了CD芯片功能参数自动测试装置。

本实用新型提供了CD芯片功能参数自动测试装置，包括CPU处理模块、初始化CD芯片模块、音频参数诊断模块、多路选择开关模块、时钟信号输出模块、USB接口数据处理模块、CD伺服驱动模块、SD卡接口数据处理模块以及LCD显示模块；

CPU处理模块分别与初始化CD芯片模块、音频参数诊断模块、多路选择开关模块以及LCD显示模块连接；多路选择开关模块分别与USB接口数据处理模块、CD伺服驱动模块以及SD卡接口数据处理模块连接；

音频参数诊断模块连接待测CD芯片的音频输出模块；

多路选择开关模块214连接待测CD芯片的USB解码模块、CD伺服解码模块以及SD卡解码模块；

初始化CD芯片模块连接待测CD芯片的闪存存储模块；

时钟信号输出模块连接待测CD芯片的时钟模块。

在一个示例中，CD芯片功能参数自动测试装置还包括电源输出模块，电源输出模块给待测CD芯片的电源模块供电。

在一个示例中，CD芯片功能参数自动测试装置还包括工作电流测量模块，工作电流测量模块连接CPU处理模块，工作电流测量模块通过串联方式与待测CD芯片的电源模块连接。

在一个示例中，CD芯片功能参数自动测试装置还包括按键模块，按键模块连接CPU处理模块。

本实用新型实现了CD芯片功能参数自动化测试，节省了芯片测试过程所需时间，提高了工作效率。

附图说明

下面结合附图来对本实用新型作进一步详细说明，其中：

图1是本实用新型的流程图；

图2是本实用新型的CD芯片功能参数自动测试装置结构图。

具体实施方式

本实用新型的CD芯片功能参数自动测试装置包括：CPU处理模块211，初始化CD芯片模块212，音频参数诊断模块213，多路选择开关模块214，时钟信号输出模块215，USB接口数据处理模块216，CD伺服驱动模块217，SD卡接口数据处理模块218，电源输出模块219，LCD显示模块21a，按键模块21b，工作电流测量模块21c。

音频参数诊断模块213诊断结果输入到CPU处理模块211，按键模块21b输入按键信息到CPU处理模块211，工作电流测量模块输出测量值到CPU处理模块211，CPU处理模块211输出启动信号给初始化CD芯片模块212，输出控制信号给多路选择开关模块214，输出测试过程以及结果给LCD显示模块；

初始化CD芯片模块212输出程序给闪存存储模块222；

音频输出模块224输出信号给音频参数诊断模块213，输出诊断结果到CPU处理模块211；

CPU处理模块211输出控制信号到多路选择开关模块214，完成通道自动切换；

时钟信号输出模块215输出时钟信号到时钟模块228；

U盘23输入信号到USB接口数据处理模块216，输出信号到多路选择开关模块214；

CD机芯24输入信号到CD伺服驱动模块217，输出控制信号给CD机芯24，CD伺服驱动模块217输出信号到多路选择开关模块214；

SD卡25输入信号到SD卡接口数据处理模块218，输出信号到多路选择开关模块214；

电源输出模块219输出电源信号给电源模块223；

CPU处理模块211输出信号到LCD显示模块21a；

按键模块21b输出按键信号到CPU处理模块211；

工作电流测量模块21c输出测量值到CPU处理模块211。