[实用新型]外延片用衬底、外延片及半导体器件有效

专利信息
申请号: 201120372334.3 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN202282351U 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 顾昱;钟旻远;林志鑫;陈斌 申请(专利权)人: 上海晶盟硅材料有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;C30B25/18
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 李强
地址: 201707 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 外延 衬底 半导体器件
【权利要求书】:

1.外延片用衬底,包括衬底本体,其特征在于,所述衬底本体背面设置有二氧化硅层,在二氧化硅层表面设置有多晶硅层。

2.根据权利要求1所述的外延片用衬底,其特征在于,所述的二氧化硅层厚度为3-7um。

3.根据权利要求1或2所述的外延片用衬底,其特征在于,所述的多晶硅层厚度为6-10um。

4.根据权利要求1所述的外延片用衬底,其特征在于,所述的衬底本体为N型。

5.根据权利要求1所述的外延片用衬底,其特征在于,所述的衬底本体为P型。

6.外延片,其特征在于,包括权利要求1至5任一权利要求所述的外延片用衬底。

7.半导体器件,其特征在于,包括权利要求6所述的外延片。 

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