[实用新型]密距脚集成电路测试分选机

说明书

技术领域

本实用新型属于半导体集成电路测试分选设备制造领域，尤其涉及一种密距脚集成电路测试分选机。 

背景技术 

目前，集成电路测试封装使用的分选机有多种多样，有手动测试和机台自动测试，用机台自动测试又有重力下滑式和拣取放置式这两种之分，相应测试方式分别采用开尔文测试夹和测试插座，这些集成电路成品测试分选机各有特点，根据集成电路芯片包装所用塑料管、托盘或散装方式，选用相应设备，能满足一定的使用要求。然而传统的分选机轨道如图1，仅由上轨100、下轨200组成，由于两者的尺寸较大，难以进行高精度生产，因此两者的配合也有一定限，难以满足高密距脚IC(0.6mm)的测试最高接触精度，密距脚IC在上述构造的轨道中容易卡料导致测试效率及准确度难以提高，取而代之必须由人工处理卡料及误测状况，这就导致生产过程无法实现高度智能控制的问题。此外，目前重力下滑式分料机测试设备中，传统分选机采用45°轨道下料，摩擦力较大并会出现间段性卡料。 

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服了上述缺陷，提供一种可适用密距脚IC且下滑速度适当的密距脚集成电路测试分选机。 

本实用新型的目的是这样实现的：一种密距脚集成电路测试分选机，其特征在于：它包括机架，机架上与水平面呈倾斜设置有工作台，于倾斜工作台上固定安装有机械手； 

所述机械手沿工作台自上而下依次排列有自动进料部件、步进分轨部件、双测试件、自动分类部件和自动收料部件，工作台；其中步进分轨部件包括由下轨、精密加工轨和上轨组成的轨道，上轨、下轨固定相 连，下轨于上轨一侧设有凹槽，凹槽中嵌接固定有精密加工轨，精密加工轨与上轨间对应形成有过料通道； 

上述结构中，所述机架上部设有与水平面夹角为32°的倾斜设置有工作台； 

上述结构中，所述机械手步进分轨部件还包括分粒器和分轨器，分粒器和分轨器设置于轨道末端； 

上述结构中，所述自动进料部件设有用于夹住并翻转物料的翻转夹手； 

上述结构中，所述双测试件设有固定密距脚集成电路的测试夹和双料感应器，所述测试夹上的测试簧片与集成电路的引脚接触； 

上述结构中，所述自动分类部件设有分料梭子，所述分料梭子的出料口对应自动收料部件的出料管； 

上述结构中，它还包括控制装置，控制装置包括控制箱、气动系统和传感控制系统，所述控制箱设置在机架底部，所述气动系统为连接机械手各部件的气缸装置，所述传感控制系统通过传感器控制气动系统带动机械手运作。 

本实用新型的有益效果在于将轨道拆分为三部分配合的结构，使得其需配合密距脚料的过料通道从传统下轨中与IC接触的上轨独立出来，使用高精度独立加工密度精密轨面制成精密加工轨，从而使IC可在精密加工轨于上轨间形成的过料通道中的滑动更加顺畅，进一步，工作台与水平面夹角成32°，从而32°斜坡重力滑料轨有效地利用了器件的物理重力下滑特性，使IC在轨道中滑动更加顺畅，杜绝了传统轨道的卡料及IC导向偏位问题，有效提高了测试精准度及生产效率使器件在轨道中快速下滑(减少摩擦力)。 

附图说明

下面结合附图详述本实用新型的具体结构： 

图1为传统分选机的轨道结构剖视图； 

图2为本实用新型的结构示意图； 

图3为本实用新型的轨道结构剖视图。 

其中，1-机架；11-活动滚轮；2-工作台；21-上轨；22-精密加工轨；23-下轨；3-机械手；31-自动进料部件；32-步进分轨部件；33-双测试件；34-自动分类部件；35-自动收料部件；4-控制箱；41-触摸屏。 

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。 

请参阅图1，本实用新型涉及一种密距脚集成电路测试分选机，它包括机架1、机械手3和控制装置，机架1上部设有与水平面呈倾斜设置有工作台2，所述机械手3安装固定在工作台2。 

所述机械手3包括自动进料部件31、步进分轨部件32、双测试件33、自动分类部件34和自动收料部件35，各部件沿工作台2自上而下依次排列。 

其中，自动进料部件31设有用于夹住并翻转物料的翻转夹手。